[发明专利]一种非侵入式高压SF6开关设备电寿命在现评估方法

说明书

技术领域

本方法设计涉及电力装置电器领域开关设备的监测，具体涉及高压SF6开关设备，特别地采用一种非侵入式高压SF6开关设备电寿命在线评估方法。

背景技术

以往对电磨损的评估判断是以记录累计开断电流(I)或累计电弧能量(I²t)为依据的。然而，同一SF6开关设备在同样的外部条件下先后两次开断同样大小的电流值，其烧损程度也不可能相同。而且，开断电流相差很大时，SF6开关设备触头的烧损机理不同，烧损相差更大。另外电磨损虽然取决于电弧能量，但还与触头分断速度等有关，且电磨损与电弧能量没有比例关系。因而，单纯的根据触头的质量损耗来计算电寿命是不够的，还需要考虑到开断不同短路电流所产生的不同磨损量，但这样的方式给高压SF6开关设备的电寿命检测带来了很大的困难。

发明内容

基于此，本公开提供了一种非侵入式高压SF6开关设备电寿命在线评估方法，所述监测系统结合考虑了开断电流的大小和高压SF6开关设备开关动作时的重叠时间，是高压SF6开关设备的一种智能化技术方法。

一种非侵入式高压SF6开关设备在线电寿命评估方法，其特征在于：

所述方法一方面通过非侵入式方式来监测弧触头接触时间；

另一方面通过直线位移传感器直接记录触头行程，结合弧触头单独接触时间得到弧触头行程-时间曲线；

所述方法在进行在线监测时，通过测得的触头接触时间结合弧触头行程-时间曲线得到弧触头单独接触行程，并通过已建立的弧触头单独接触行程与电寿命的对应关系，对高压SF6开关设备的电寿命进行评估。

本发明具有简单可行，测量结果准确；所述方法通过非侵入式监测，再通过远程处理器进行数据处理，具有安全方便的特点。

附图说明

图1为本发明的弧触头单独接触行程测量原理图；

图2为本发明一个实施例中弧触头单独接触行程与高压SF6开关设备电寿命 关系图。

具体实施方式

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种非侵入式高压SF6开关设备在线电寿命评估方法，所述方法一方面通过非侵入式方式来监测弧触头接触时间；

另一方面通过直线位移传感器直接记录触头行程，结合弧触头单独接触时间得到弧触头行程-时间曲线；

所述方法在进行在线监测时，通过测得弧触头接触时间结合弧触头行程-时间曲线得到弧触头单独接触行程，并通过已建立的弧触头单独接触行程与电寿命的对应关系，对高压SF6开关设备的电寿命进行评估。

在这个实施例中，所述弧触头单独接触行程是指主触头开断后弧触头的接触行程，是评估触头烧蚀情况的重要指标。通过实验得到的弧触头的接触行程随开断次数的变化趋势图，可以看出随着开断次数的增加，弧触头单独接触行程呈二次幂指数下降。但是在实际设备上测量弧触头单独行程并不方便，因此事先通过实验测量弧触头单独接触时间与弧触头单独行程来得弧触头行程-时间曲线，进而在实际中通过测量弧触头接触时间得到弧触头单独行程，在通过已建立的弧触头单独接触行程与电寿命的对应关系，对高压SF6开关设备的电寿命进行在线评估。其评估原理如图2所示。

优选的，所述非侵入式方式为在所述监测模块通过在高压SF6开关设备的开关设备一侧注入高频信号，在另一侧通过量级为几个欧姆的电阻提取电压信号，并在实测过程中实时监测电压信号随时间的动态变化关系，通过记录数据并绘制U-t曲线来获得弧触头单独接触时间。

在实际测量中，开关正常工作下在闭合时，信号幅值为100％；当主触头断开时，信号幅值衰减到99.3％；而高压SF6开关设备完全断开时，信号幅值衰减到10％，因而利用在高频信号下灭弧室触头开断过程中分布感抗值的不同，通过在高压SF6开关设备进线端注入高频信号、在出线端提取高频信号的方式，结合后续相关信号处理与分析装置获得弧触头单独接触时间；结合直线位移传感器获取的行程时间曲线得到弧触头单独接触行程，从而进行电寿命的评估，所述方法简单可行。

优选的，事先通过实验测量弧触头单独接触时间与弧触头单独行程来得弧触头行程-时间曲线时，在实验室汇总使用的所述直线位移传感器为导电塑料直线 位移传感器。