[发明专利]一种基于投影仪散焦解相位的光栅投影三维快速测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及三维信息重构领域，尤其是一种基于投影仪散焦解相位的光栅投影三维快速测量方法。

背景技术

光学三维测量技术能够准确获取物体的三维面形数据，可用于三维模型重建、物体表面轮廓测量、工业环境中的尺寸和形位参数的检测等，因此它在虚拟现实、投影特技、医学整形和美容、工业产品的外观设计、艺术雕塑和文物保护等领域都有广阔的应用前景。

光栅投影法是一种重要的三维测量技术，通过向物体表面投射正弦光栅，将物体的高度信息以相位的形式调制在光栅中，利用CCD相机获得物体表面的光栅条纹图像，并使用条纹分析方法对条纹图像进行处理，提取其中的相位，从而建立物体的三维信息。

基于DLP(digital light processing)投影仪的数字光栅投影技术越来越多的用于高质量实时光学三维测量，但传统的三维测量方法往往无法同时达到高速和高质量。在实时三维测量系统中，投影正弦光栅或是散焦二值光栅决定了测量系统所能达到的速度。

散焦是针对DLP投影而言。正常使用时，投影仪镜头一般调节到聚焦状态，散焦是相对于聚焦而言，适当调节聚焦旋钮使投影画面模糊，即可达到不同程度的散焦。二值光栅散焦技术相对于传统的正弦光栅投影技术具有明显的优势。投影仪接受的始终是二值(0-1)图像而非灰度图像，因此相机采集各图像通道数据时曝光时间可以设置为远小于通道的持续时间，这使得测量速度达到DLP投影仪的最大刷新频率120帧每秒。散焦技术的另一优势就是投影仪不需要非线性校正。

解相位是相位法中重要的一步，也是光栅投影法的基本问题之一。为了提高解相位的准确性，通常采用灰阶码等编码方法，通过增加投影条纹的数量来获得足够的相位信息。相位法中获得相位的过程分为两步，第一步是通过相移法公式获得条纹图的相位场主值，相移法公式得到的是锯齿形的相位场主值，值域位于(-π,+π]区间；第二步是将主值相位场恢复为全场完整的相位场，称为解相位或解包裹。由此可见，解相位的关键就是确定光栅条纹的周期次数。灰阶码法给光栅上每个点一个灰阶数，该灰阶数对应着该点的条纹周期次数，这就要用到辅助光栅条纹。每一幅辅助条纹图像决定灰阶数的一位数字的取值(0或1)，对每一个点来说，它在各辅助条纹图像中的颜色(灰或白)的组合，就决定了它的灰阶数。通过灰阶码可以确定通过时域确定条纹图上每一点的条纹次数，而不依赖于空域上条纹的分布性质，有效地克服了复杂表面、高度跳变、阴影等引起的误判。用这种方法解得的相位，准确、方便、算法简洁，但是需要另外增加若干辅助光栅条纹，这样测量时速度较慢，提高了对光栅设备的要求，增加了系统的硬件成本和时间成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种基于投影仪散焦解相位的光栅投影三维快速测量方法，对散焦后的二值辅助光栅进行二值标准化，改善了灰阶码的准确性，提高了绝对相位的质量。

为解决上述技术问题，本发明提供一种基于投影仪散焦解相位的光栅投影三维快速测量方法，包括如下步骤：

(1)利用计算机生成大小为M行N列的标准正弦光栅图像I，每点的灰度计算公式为：

其中，I(i,j)为光栅图像I在第i行第j列处的灰度值，p为光栅条纹周期，为光栅的相移量；

(2)I经抖动算法处理生成二值抖动光栅图D，D的大小与I相同；

(3)利用计算机生成大小为M行N列的二值辅助光栅图G和一幅额外二值光栅图F，即：

其中，F(i,j)为光栅图像F在第i行第j列处的像素值；

(4)将二值抖动光栅图D、二值辅助光栅图G和额外二值光栅图F通过投影仪散焦投射到被测目标上，用摄像机采集变形光栅条纹，得到大小为r行c列的图像，其中D散焦后的正弦光栅可以表示为：

I_n(x,y)＝I′(x,y)+I″(x,y)cos[φ(x,y)+2πn/4]

其中，n＝0,1,2,3，I_n(x,y)为第n幅图像的灰度值，I′(x,y)为条纹光强的背景值，I″(x,y)为调制强度，φ(x,y)为待求的主值相位分布，(x,y)表示变形光栅图像中各像素点的二维坐标，取值范围分别为：1≤x≤r,1≤y≤c；

(5)利用四步相移法求解主值相位φ(x,y)：

(6)将G散焦后的辅助光栅图G^d和F散焦后的额外光栅图F^d上所有像素点的值进行比较，得到标准化后的辅助光栅图G^nd可以表示为：