[发明专利]一种图像水印检测系统有效
申请号: | 201510320221.1 | 申请日: | 2011-08-26 |
公开(公告)号: | CN105160621B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 余伟华 | 申请(专利权)人: | 北京中盈信安科技发展有限责任公司 |
主分类号: | G06T1/00 | 分类号: | G06T1/00 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 钟日红;张文娟 |
地址: | 100048 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基准水印 检测系统 标点 水印信号 图像水印 校正图像 最大相关 图像数字水印 待检测图像 几何攻击 计算模块 检测图像 判断结果 判断模块 提取模块 图像形状 校正模块 剪切 正图像 缩放 预设 复合 抵抗 恢复 | ||
1.一种图像水印检测系统,其特征在于,包括:
提取模块(21),其提取待检测图像中包含的水印信号,作为第一水印信号;
计算模块(22),其获取相关值最大的最大坐标点;
校正模块(23),其根据所述最大坐标点的坐标值,对待检测图像进行恢复以得到校正图像;以及
判断模块(24),其基于在所述校正图像中各与基准水印模板所构成的图像形状大小相一致的区域、与基准水印模板之间的各相关值中的最大相关值,判断所述最大相关值是否大于预设阈值,并根据判断结果判断该校正图像中是否包含基准水印信号;
所述计算模块(22)通过如下处理来获取相关值最大的最大坐标点:
对所述第一水印信号进行自相关函数计算,以生成自相关函数图像,其中,根据如下表达式对所述第一水印信号进行自相关函数计算,以生成自相关函数图像:
式中,I表示对第一水印信号进行周期性拓展而生成的图像;
x,y分别表示图像I的宽方向的坐标值和高方向的坐标值;
M,N分别表示图像I的宽和高,与待检测图像的宽和高相等;
u,v分别表示自相关函数的宽方向的坐标值和高方向的坐标值;
其中,x,u=1…M;y,v=1…N;
将参考布局信息与所述自相关函数图像分别映射到对数极坐标系中,获得使得二者线性相关值最大的最大坐标点,其中,根据如下表达式对所述参考布局信息与所述自相关函数图像的笛卡尔坐标系点P(x,y)分别进行映射:
式中,(r,θ)分别表示对数极坐标的极径与极角,Mc为常数;
其中,所述参考布局信息是在图像的水印信号嵌入过程中附加至图像的具有设定规则的信息。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,
所述计算模块(22)对所述参考布局信息与所述自相关函数图像的映射结果进行匹配滤波以获得使得二者线性相关值最大的最大坐标点。
3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,
所述校正模块(23)根据所述最大坐标点的坐标值来获得表征所述待检测图像受到的几何攻击的几何攻击参数,利用所述几何攻击参数对待检测图像进行恢复以得到校正图像。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,
所述提取模块(21)将所述待检测图像的灰度直方图均衡化,获得均衡化图像,基于所述均衡化图像提取所述待检测图像中包含的所述第一水印信号。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,
所述提取模块(21)通过对所述均衡化图像进行预测滤波来获取所述待检测图像中的高频率部分,作为第一水印信号。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,
所述提取模块(21)通过高斯高通滤波器或巴特沃斯高通滤波器来进行预测滤波。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,
若所述判断模块(24)判断出所述校正图像含有基准水印信号,则获取校正图像中的水印信号并对其进行解码输出。
8.根据权利要求1、2、4至7中任一项所述的系统,其特征在于,
所述计算模块(22)对所述参考布局信息与所述自相关函数图像的映射结果进行匹配滤波以获得使得二者的线性相关值最大的最大坐标点。
9.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,
所述计算模块(22)对所述参考布局信息与所述自相关函数图像的映射结果进行匹配滤波以获得使得二者的线性相关值最大的最大坐标点。
10.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,
所述校正模块(23)根据所述最大坐标点的坐标值来获得用于表征所述待检测图像受到的几何攻击的几何攻击参数,利用所述几何攻击参数对待检测图像进行恢复以得到校正图像。
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