[发明专利]一种泄漏双包层光纤中包层光的方法

权利要求书

1.一种泄漏双包层光纤中包层光的方法，其特征在于一种泄漏双包层光纤中包层光的方法是按照以下步骤进行的：

一、泄漏段的选择：在双包层光纤上选择一段为泄漏段，泄漏段内包含化学试剂腐蚀泄漏段及高折射率固化胶泄漏段，沿着光在双包层光纤中的传播方向，光首先经过化学试剂腐蚀泄漏段，然后经过高折射率固化胶泄漏段；

二、化学试剂腐蚀泄漏：首先将化学试剂腐蚀泄漏段的涂覆层和外包层剥除，裸露出内包层，然后将化学试剂腐蚀泄漏段裸露出内包层的双包层光纤置于腐蚀试剂中，腐蚀20min～40min，得到含有化学试剂腐蚀泄漏段的双包层光纤；

所述的腐蚀试剂为可腐蚀SiO₂的试剂；步骤二中所述的腐蚀试剂为高浓度氢氟酸溶液或饱和的氟化氢钾溶液；所述的高浓度氢氟酸溶液的浓度40％以上；

三、高折射率固化胶泄漏：将高折射率固化胶泄漏段的涂覆层和外包层剥除，裸露出内包层，然后用高折射率固化胶涂覆高折射率固化胶泄漏段裸露出的内包层，固化，得到含有化学试剂腐蚀泄漏段及高折射率固化胶泄漏段的双包层光纤，即完成泄漏双包层光纤中包层光的方法；

所述的高折射率固化胶为高折射率紫外固化胶；

所述的高折射率紫外固化胶为经过紫外灯固化后折射率大于内包层折射率的紫外固化胶；

所述的高折射率紫外固化胶固化后涂覆层折射率为1.60～1.63。

2.根据权利要求1所述的一种泄漏双包层光纤中包层光的方法，其特征在于当所述的包层光的功率为10W以下时，化学试剂腐蚀泄漏段的长度为10cm以下，高折射率固化胶泄漏段的长度为5cm以下。