[发明专利]一种新型光臂放大式高精度长度传感器及测量方法有效
申请号: | 201510312068.8 | 申请日: | 2015-06-09 |
公开(公告)号: | CN104897064B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 张白;丁子兮 | 申请(专利权)人: | 张白 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 王芸;韩洋 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光束 长度传感器 光电探测器 反射部件 反射面 放大式 光臂 反射 被测物体 反射位置 位置变化 测量 处理系统 批量制造 首尾相连 凸起形状 位移量 | ||
1.一种新型光臂放大式高精度长度传感器,其特征在于,包括:
激光束一(3)、激光束二(4);
反射部件(8),所述反射部件(8)上设有用于反射所述激光束一(3)、激光束二(4)的若干个反射面(9),每个所述反射面(9)截面为凸起形状,所有所述反射面(9)首尾相连;
光电探测器一(6),用于接收所述激光束一(3)在所述反射部件(8)中的反射面(9)反射后的激光束并显示其反射位置;
光电探测器二(7),用于接收所述激光束二(4)在所述反射部件(8)中的反射面(9)反射后的激光束并显示其反射位置;
处理系统,根据所述光电探测器一(6)上所接收到的激光束一(3)反射位置变化值和所述光电探测器二(7)上所接收到的激光束二(4)反射位置变化值,处理得到被测物体的位移变化值;
所述激光源一(1)和激光源二(2)的间距可调,所述光电探测器一(6)与所述光电探测器二(7)的间距可调,所述激光源一(1)发射的激光束一(3)、所述激光源二(2)发射的激光束二(4)相对读数头收发端面(51)的出射角度均可调。
2.根据权利要求1所述的一种新型光臂放大式高精度长度传感器,其特征在于,每个所述反射面(9)的凸起形状截面均为对称的等腰三角形状或圆弧形状。
3.根据权利要求1或2所述的一种新型光臂放大式高精度长度传感器,其特征在于,所述激光束一(3)、激光束二(4)分别通过激光源一(1)和激光源二(2)发射得到该激光束。
4.根据权利要求3所述的一种新型光臂放大式高精度长度传感器,其特征在于,包括壳体,所述激光源一(1)、激光源二(2)、光电探测器一(6)、光电探测器二(7)均位于壳体内,形成读数头(5),所述读数头(5)的收发端面(51)可穿过激光束一(3)、激光束二(4)以及所述激光束一(3)、激光束二(4)的反射激光束。
5.根据权利要求4所述的一种新型光臂放大式高精度长度传感器,其特征在于,所述光电探测器一(6)与所述光电探测器二(7)相互平行设置,且均垂直或平行于所述读数头(5)的收发端面(51)。
6.一种新型光臂放大式高精度长度传感器的测量方法,包括如权利要求4-5任一所述的新型光臂放大式高精度长度传感器,其特征在于,其测量方法包括以下步骤:
步骤一、将被测物体固定在所述反射部件(8)或读数头(5)上,其中将所述反射面(9)调整为与被测物体的移动方向一致;
步骤二、调整激光束一(3)、激光束二(4)、反射部件(8)、光电探测器一(6)、光电探测器二(7)的位置关系,使其相互适配,使激光束一(3)、激光束二(4)在所述反射部件(8)上反射的两条激光束能够分别被所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)探测到;并且调整所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)与所述反射部件(8)的位置关系,使被测物体发生位移时,使激光束一(3)、激光束二(4)通过反射面(9)反射到对应光电探测器上的感光长度变化值大于被测物体位移值;所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)与处理系统通信连接;
步骤三、发射激光束一(3)、激光束二(4),所述激光束一(3)、激光束二(4)经过所述反射部件(8)的不同反射面(9)或同一反射面(9)的不同位置分别反射后,所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)检测到该反射光束的初始位置;
步骤四、被测物体发生位移,在位移过程中,所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)分别检测到所述激光束一(3)、激光束二(4)的反射激光束在各自探测器上反射位置的变化,直到被测物体停止位移;
步骤五、处理系统通过对所述步骤三、步骤四中所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)所检测到的激光束一(3)、激光束二(4)的反射激光束的反射位置变化值进行处理,获得所述反射部件(8)或读数头(5)上被测物体的位移值。
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