[发明专利]基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法

说明书

技术领域

本发明涉及电力系统外绝缘领域，尤其涉及一种基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法。

背景技术

目前,电力系统输电线路所用的悬式瓷和玻璃绝缘子已不局限于标准盘形悬式绝缘子。典型的悬式绝缘子的外形分为四种：标准外形，空气动力学外形(或称为开放外形)，防雾外形，双层伞与三层伞外形(外伞形)。

四种典型外形的瓷和玻璃悬式绝缘子的积污难易度已被定性地区分。比如，标准外形较易积污，可用于污秽很轻的地区，空气动力学外形相比于标准外形不易积污，可用于严重污染的工业地区等。但是，如何定量标定不同型号瓷和玻璃绝缘子的积污难易度的问题目前还没有得到解决。

灰密(non soluble deposit density，NSDD)是用于度量绝缘子积污水平的参数之一，灰密表示绝缘子表面不可溶污秽物的积累量。目前，普遍采用人工擦洗绝缘子表面污秽的方法进行灰密的测算，但该方法存在较大的随机误差，直接导致同一地区同种绝缘子的灰密测算值变化范围较大，而在不同地区测得的绝缘子灰密测算值数值则相差更大。

综上所述，现有的悬式绝缘子积污难易程度标定方法已无法满足实际工作的需要，亟需一种标定结果更为准确的且适用于不同型号悬式瓷和玻璃绝缘子积污难易度的标定方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法，能够避免外绝缘配置的盲目性，标定结果更为准确，同时能够避免对该型号绝缘子进行重复积污试验，节省企业的人力、财力和物力。

本发明采用下述技术方案：

基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法，其特征在于，包括以下步骤：

A：分别测量N个待标定绝缘子表面的灰密，然后将标准盘形悬式绝缘子作为参照绝缘子，测量与每个待标定绝缘子同地点同高度悬挂的标准盘形悬式绝缘子表面的灰密；然后进入步骤B；

B：以标准盘形悬式绝缘子的灰密作为基准，分别计算每一个待标定绝缘子的灰密与对应的标准盘形悬式绝缘子的灰密的比值，该比值作为归一化灰密；然后将待标定绝缘子的N个归一化灰密放于同一集合中，得到该待标定绝缘子的归一化灰密集合；然后进入步骤C；

C：计算该待标定绝缘子的归一化灰密集合中所有数据的平均值和标准差s；然后进入步骤D；

平均值的计算公式为：

x‾=1NΣi=1Nxi,]]>

其中，x_i为归一化灰密集合中的归一化灰密数据，i＝1,2，……，N；

标准差s的计算公式为：

s=1NΣi=1N(xi-x‾)2;]]>

其中，x_i为归一化灰密集合中的归一化灰密数据，为待标定绝缘子的归一化灰密集合中的所有数据的平均值，i＝1,2，……，N；

D：计算归一化灰密集合中的可疑值然后根据得到的可疑值计算用于检验可疑值是否为归一化灰密集合中离群值的检验统计量g；然后进入步骤E；

可疑值的计算公式为：