[发明专利]基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510291579.6 申请日: 2015-06-01
公开(公告)号: CN104953226B 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 张斌珍;赵锐;南雪莉;孙玉洁;王伟;贾志浩;毛静;崔建利;赵龙;徐苏萍 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: H01P5/18 分类号: H01P5/18
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙)14100 代理人: 朱源,王勇
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 基于 牺牲 技术 赫兹 波导 耦合器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器,其特征在于:包括第一金属T形片(1)、第二金属T形片(2)、第三金属T形片(3)、第四金属T形片(4)、第五金属T形片(5);

其中,第一金属T形片(1)、第二金属T形片(2)、第三金属T形片(3)、第四金属T形片(4)、第五金属T形片(5)自下而上依次层叠成一体;

第二金属T形片(2)的横向部分表面开设有上下贯通的直形波导腔(6);直形波导腔(6)的左端贯通第二金属T形片(2)的横向部分的左端面,直形波导腔(6)的右端贯通第二金属T形片(2)的横向部分的右端面;

第三金属T形片(3)的横向部分表面左部开设有一排上下贯通的耦合孔(7);

第四金属T形片(4)的横向部分表面左部和纵向部分表面共同开设有上下贯通的L形波导腔(8);L形波导腔(8)的左端封闭,L形波导腔(8)的前端贯通第四金属T形片(4)的纵向部分的前端面;

具体制备方法是采用如下步骤实现的:

a.选取一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一结构层模具;而后,对第一结构层模具进行电铸,由此得到第一金属T形片(1);

b.在第一结构层模具的上表面和第一金属T形片(1)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一牺牲层模具;而后,对第一牺牲层模具进行电铸,由此得到第二金属T形片(2)和直形波导腔(6);

c.在第一牺牲层模具的上表面和第二金属T形片(2)的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二结构层模具;而后,对第二结构层模具进行电铸,由此得到第三金属T形片(3)和耦合孔(7);

d.在第二结构层模具的上表面和第三金属T形片(3)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二牺牲层模具;而后,对第二牺牲层模具进行电铸,由此得到第四金属T形片(4)和L形波导腔(8);

e.将第一牺牲层模具和第二牺牲层模具进行去除;

f.选取另一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第三结构层模具;而后,对第三结构层模具进行电铸,由此得到第五金属T形片(5);最后,将第五金属T形片(5)层叠于第四金属T形片(4)的上表面,由此制成太赫兹波导耦合器。

2.根据权利要求1所述的基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器,其特征在于:第三金属T形片(3)的厚度为30μm;耦合孔(7)的直径为200μm。

3.一种基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器的制备方法,该方法用于制备如权利要求1所述的基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器,其特征在于:该方法是采用如下步骤实现的:

a.选取一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一结构层模具;而后,对第一结构层模具进行电铸,由此得到第一金属T形片(1);

b.在第一结构层模具的上表面和第一金属T形片(1)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一牺牲层模具;而后,对第一牺牲层模具进行电铸,由此得到第二金属T形片(2)和直形波导腔(6);

c.在第一牺牲层模具的上表面和第二金属T形片(2)的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二结构层模具;而后,对第二结构层模具进行电铸,由此得到第三金属T形片(3)和耦合孔(7);

d.在第二结构层模具的上表面和第三金属T形片(3)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二牺牲层模具;而后,对第二牺牲层模具进行电铸,由此得到第四金属T形片(4)和L形波导腔(8);

e.将第一牺牲层模具和第二牺牲层模具进行去除;

f.选取另一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第三结构层模具;而后,对第三结构层模具进行电铸,由此得到第五金属T形片(5);最后,将第五金属T形片(5)层叠于第四金属T形片(4)的上表面,由此制成太赫兹波导耦合器。

4.根据权利要求3所述的基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器的制备方法,其特征在于:所述步骤a、c、f中,负性光刻胶为SU-8负性光刻胶;所述步骤b、d中,正性光刻胶为AZ正性光刻胶。

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