[发明专利]基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器及其制备方法有效
申请号: | 201510291579.6 | 申请日: | 2015-06-01 |
公开(公告)号: | CN104953226B | 公开(公告)日: | 2017-11-17 |
发明(设计)人: | 张斌珍;赵锐;南雪莉;孙玉洁;王伟;贾志浩;毛静;崔建利;赵龙;徐苏萍 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | H01P5/18 | 分类号: | H01P5/18 |
代理公司: | 太原科卫专利事务所(普通合伙)14100 | 代理人: | 朱源,王勇 |
地址: | 030051 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 牺牲 技术 赫兹 波导 耦合器 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器,其特征在于:包括第一金属T形片(1)、第二金属T形片(2)、第三金属T形片(3)、第四金属T形片(4)、第五金属T形片(5);
其中,第一金属T形片(1)、第二金属T形片(2)、第三金属T形片(3)、第四金属T形片(4)、第五金属T形片(5)自下而上依次层叠成一体;
第二金属T形片(2)的横向部分表面开设有上下贯通的直形波导腔(6);直形波导腔(6)的左端贯通第二金属T形片(2)的横向部分的左端面,直形波导腔(6)的右端贯通第二金属T形片(2)的横向部分的右端面;
第三金属T形片(3)的横向部分表面左部开设有一排上下贯通的耦合孔(7);
第四金属T形片(4)的横向部分表面左部和纵向部分表面共同开设有上下贯通的L形波导腔(8);L形波导腔(8)的左端封闭,L形波导腔(8)的前端贯通第四金属T形片(4)的纵向部分的前端面;
具体制备方法是采用如下步骤实现的:
a.选取一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一结构层模具;而后,对第一结构层模具进行电铸,由此得到第一金属T形片(1);
b.在第一结构层模具的上表面和第一金属T形片(1)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一牺牲层模具;而后,对第一牺牲层模具进行电铸,由此得到第二金属T形片(2)和直形波导腔(6);
c.在第一牺牲层模具的上表面和第二金属T形片(2)的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二结构层模具;而后,对第二结构层模具进行电铸,由此得到第三金属T形片(3)和耦合孔(7);
d.在第二结构层模具的上表面和第三金属T形片(3)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二牺牲层模具;而后,对第二牺牲层模具进行电铸,由此得到第四金属T形片(4)和L形波导腔(8);
e.将第一牺牲层模具和第二牺牲层模具进行去除;
f.选取另一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第三结构层模具;而后,对第三结构层模具进行电铸,由此得到第五金属T形片(5);最后,将第五金属T形片(5)层叠于第四金属T形片(4)的上表面,由此制成太赫兹波导耦合器。
2.根据权利要求1所述的基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器,其特征在于:第三金属T形片(3)的厚度为30μm;耦合孔(7)的直径为200μm。
3.一种基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器的制备方法,该方法用于制备如权利要求1所述的基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器,其特征在于:该方法是采用如下步骤实现的:
a.选取一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一结构层模具;而后,对第一结构层模具进行电铸,由此得到第一金属T形片(1);
b.在第一结构层模具的上表面和第一金属T形片(1)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第一牺牲层模具;而后,对第一牺牲层模具进行电铸,由此得到第二金属T形片(2)和直形波导腔(6);
c.在第一牺牲层模具的上表面和第二金属T形片(2)的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二结构层模具;而后,对第二结构层模具进行电铸,由此得到第三金属T形片(3)和耦合孔(7);
d.在第二结构层模具的上表面和第三金属T形片(3)的上表面旋涂正性光刻胶,并对正性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第二牺牲层模具;而后,对第二牺牲层模具进行电铸,由此得到第四金属T形片(4)和L形波导腔(8);
e.将第一牺牲层模具和第二牺牲层模具进行去除;
f.选取另一个基片,并对基片进行清洗;然后,在基片的上表面旋涂负性光刻胶,并对负性光刻胶进行紫外光刻,由此得到第三结构层模具;而后,对第三结构层模具进行电铸,由此得到第五金属T形片(5);最后,将第五金属T形片(5)层叠于第四金属T形片(4)的上表面,由此制成太赫兹波导耦合器。
4.根据权利要求3所述的基于牺牲层技术的太赫兹波导耦合器的制备方法,其特征在于:所述步骤a、c、f中,负性光刻胶为SU-8负性光刻胶;所述步骤b、d中,正性光刻胶为AZ正性光刻胶。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中北大学,未经中北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510291579.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。