[发明专利]一种时空环数据结构进行槽孔检测的方法及装置有效
申请号: | 201510288931.0 | 申请日: | 2015-05-29 |
公开(公告)号: | CN104933705B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 卢金波;徐地华;许德平 | 申请(专利权)人: | 南昌正业科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 屈慧丽;曹志霞 |
地址: | 331722 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据结构 待测点 槽孔 测槽 时空 毛刺 坐标信息 复数 检测 采集图像 检测技术 角度区间 角度确定 距离区间 距离最近 模板图像 点集 预置 锁定 | ||
本发明实施例公开了一种时空环数据结构进行槽孔检测的方法及装置,解决了目前槽孔毛刺长度的检测无法进行高精度和高效的槽孔检测技术问题。本发明实施例的方法包括:S1:获取包含有待测槽孔的采集图像,并确定待测槽孔的第一坐标信息;S2:根据第一坐标信息确定与待测点对应的第一距离和第一角度,待测槽孔包含有复数个待测点;S3:根据第一距离和第一角度确定的第二距离区间和第二角度区间锁定相对应的模板点范围,使得在模板点范围中定位与待测点距离最近的模板点,并确定最近的距离为待测点的毛刺长度;其中,模板点通过提取预置模板图像相对应的时空环数据结构获取,时空环数据结构由包含有复数个模板点的点集组成。
技术领域
本发明涉及光学技术检测领域,尤其涉及一种时空环数据结构进行槽孔检测的方法及装置。
背景技术
随着IC产业的迅猛发展,PCB的要求也日益提高,尤其对于超薄型、小元件、高密度、细间距的线路板在技术上的要求也非常之高,其直接影响了IC产品的品质,因此,PCB检孔机技术应运而生,PCB检孔机是一种主要针对PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)中的槽孔(包含圆孔)检测的系统装置。
目前PCB的设计和加工水平达到了槽孔孔径小、孔位密集的技术,例如0.1mm至0.3mm的范围,正是小孔径的槽孔毛刺长度的检测需要大量的计算,以及精确的光学捕捉来实现槽孔的毛刺长度检测。
然而,上述的由于槽孔毛刺长度的检测需要大量的计算,以及精确的光学捕捉来实现槽孔的毛刺长度检测,使得检测效率在保证精度的情况下大大地降低,目前并未有较完备的高精度和高效的槽孔检测技术。
因此,关于如何就槽孔毛刺长度的检测进行高精度和高效的槽孔检测技术问题成为了本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种时空环数据结构进行槽孔检测的方法及装置,解决了目前槽孔毛刺长度的检测无法进行高精度和高效的槽孔检测技术问题。
本发明实施例中提供的一种时空环数据结构进行槽孔检测的方法,包括:
S1:获取包含有待测槽孔的采集图像,并确定所述待测槽孔的第一坐标信息;
S2:根据所述第一坐标信息确定与待测点对应的第一距离和第一角度,所述待测槽孔包含有复数个所述待测点;
S3:根据所述第一距离和所述第一角度确定的第二距离区间和第二角度区间锁定相对应的模板点范围,使得在所述模板点范围中定位与所述待测点距离最近的模板点,并确定最近的所述距离为所述待测点的毛刺长度;
其中,所述模板点通过提取预置模板图像相对应的时空环数据结构获取,所述时空环数据结构由包含有复数个模板点的点集组成。
优选地,
复数个所述待测点通过与之对应的第一距离和第一角度具有对应的待测点等级;复数个所述模板点通过与之对应的第二距离和第二角度具有对应的模板点等级。
优选地,
步骤S3具体包括:
根据所述待测点等级确定相对应的所述模板点等级;
在确定后的所述模板点等级中,根据所述第一坐标信息定位与所述待测点之间的距离最近的所述模板点,并确定最近的所述距离为所述待测点的毛刺长度。
优选地,
所述第一距离为所述待测点与所述第一坐标信息的原点的距离,所述第一角度为所述待测点到所述第一坐标信息的原点间的距离段与所述第一坐标信息的正向X坐标轴形成的二维夹角。
优选地,
步骤S1之前还包括:
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