[发明专利]液体中粒子检测装置及液体中粒子的检测方法有效
| 申请号: | 201510281734.6 | 申请日: | 2015-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN105136673B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
| 发明(设计)人: | 小原太辅;古谷雅 | 申请(专利权)人: | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/64 |
| 代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 肖华 |
| 地址: | 日本东京都千代田*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 液体 粒子 检测 装置 方法 | ||
1.一种液体中粒子检测装置,其特征在于,包括:
液体流动的流动池;
向所述流动池照射检查光的光源;
对照射了所述检查光的区域产生的散射光进行检测的散射光检测器;以及
判定部,所述判定部在所述散射光检测器持续地检测到所述散射光的时间长度不到规定的时间的情况下,判定为所述液体中含有粒子;而在所述散射光检测器持续地检测到规定的强度以上的所述散射光的时间长度在规定的时间以上的情况下,则判定为所述流动池未被所述液体充满,所述规定的强度根据预先取得的、由检测对象的粒子所产生的散射光的强度和所述流动池内未有液体流动时产生的散射光的强度来设定。
2.根据权利要求1所记载的液体中粒子检测装置,其特征在于,
在被判定为所述流动池未被所述液体充满的情况下,所述光源使所述检查光的强度降低。
3.根据权利要求2所记载的液体中粒子检测装置,其特征在于,
在所述光源使所述检查光的强度降低之后,所述光源使所述检查光的强度上升至能够检测到所述粒子的原来的强度。
4.根据权利要求3所记载的液体中粒子检测装置,其特征在于,
在所述规定的时间以上持续地检测到规定的强度以上的所述散射光的情况下,所述光源使所述检查光的强度降低。
5.一种液体中粒子的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
对液体流动的流动池照射检查光的步骤;
对照射了所述检查光的区域产生的散射光进行检测的步骤;
在持续地检测到所述散射光的时间长度不到规定的时间的情况下,判定为所述液体中含有粒子;而在持续地检测到规定的强度以上的所述散射光的时间长度在规定的时间以上的情况下,则判定为所述流动池未被所述液体充满的步骤,其中,所述规定的强度根据预先取得的、由检测对象的粒子所产生的散射光的强度和所述流动池内未有液体流动时产生的散射光的强度来设定。
6.根据权利要求5所记载的液体中粒子的检测方法,其特征在于,
在被判定为所述流动池未被所述液体充满的情况下,使所述检查光的强度降低。
7.根据权利要求6所记载的液体中粒子的检测方法,其特征在于,
在使所述检查光的强度降低之后,使所述检查光的强度上升至能够检测到所述粒子的原来的强度。
8.根据权利要求7所记载的液体中粒子的检测方法,其特征在于,
在所述规定的时间以上持续地检测到规定的强度以上的所述散射光的情况下,使所述检查光的强度降低。
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