[发明专利]微结构增强反射式光阴极的制备方法有效
申请号: | 201510279955.X | 申请日: | 2015-05-27 |
公开(公告)号: | CN105047505B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 樊龙;邓博;曹柱荣 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | H01J9/12 | 分类号: | H01J9/12 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司31225 | 代理人: | 杨元焱 |
地址: | 621900 四川省绵*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微结构 增强 反射 阴极 制备 方法 | ||
1.一种微结构增强反射式光阴极的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,提供一个微通道板,该微通道板由皮玻璃和芯玻璃构成,其中的皮玻璃是可被HF腐蚀而不被HNO3腐蚀的玻璃,芯玻璃是既可被HF腐蚀而又可被HNO3腐蚀的玻璃;
步骤二,将微通道板的一面浸入HF溶液中,皮玻璃和芯玻璃交界处的一部分皮玻璃和芯玻璃被腐蚀,并在皮玻璃上形成锥壁;
步骤三,将步骤二处理过的微通道板清洗后,将同一面浸入HNO3溶液中进行处理,芯玻璃的一部分被腐蚀形成平面锥底;
步骤四,将步骤三处理过的微通道板清洗后浸入NaOH溶液中进行表面微处理;
步骤五,将步骤三处理过的微通道板去除表面损伤层,烘干后获得具有密排倒圆锥后凹式微结构阵列的微结构增强基底;
步骤六,采用物理气相沉积法在微结构基底表面镀制一层电极层;
步骤七,采用物理气相沉积法在电极层上镀制一层光电发射层;
步骤二所述HF溶液质量浓度为0.1%~1.5%,处理温度为25℃±2℃,处理时间为30s~200s;
步骤三所述HNO3溶液浓度为0.2mol/L~1.5mol/L,处理温度为25℃±2℃,处理时间为60s~600s;
步骤四所述NaOH溶液质量浓度为2%~8%,处理温度为25℃±2℃,处理时间为120s~400s。
2.如权利要求1所述的微结构增强反射式光阴极的制备方法,其特征在于:所述的物理气相沉积法为磁控溅射、真空热蒸发或电子束蒸发法。
3.如权利要求1所述的微结构增强反射式光阴极的制备方法,其特征在于:构成电极层的材料为与微结构增强基底附着性好的Cr、Ni或Cu,电极层厚度为100-300nm。
4.如权利要求1所述的微结构增强反射式光阴极的制备方法,其特征在于:构成光电发射层的材料为对X射线具有高光电转换效率的Au或CsI,光电发射层厚度为300-600nm。
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