[发明专利]一种OCT图像的校正方法

权利要求书

1.一种OCT图像的校正方法,其特征在于，包括如下步骤：

OCT系统的扫描单元扫描样品，得到OCT图像，确定出至少包括有第一扫描半径R和第一振动角度α1的若干参数；

调整所述扫描单元的扫描线角度，分别在水平方向和垂直方向扫描样品，求出长轴2a和短轴2b，构建出椭圆公式

定义扫描单元的扫描线在任意扫描角度θ时的第二扫描半径为2c,根据椭圆公式求得扫描距离c和第二振动角度α2；

利用所述扫描距离c和所述第二振动角度α2将在任意扫描角度θ扫描样品得到的OCT图像还原成被扫描样品真实的形状；

其中，θ为扫描单元的扫描线和水平方向构成的夹角，为已知值；所述第二振动角度α2根据公式R*sin((α1)/2)＝2c*sin((α2)/2)求得。

2.如权利要求1所述的OCT图像的校正方法,其特征在于，所述若干参数还包括OCT图像顶端宽度w，根据公式w＝R*sin((α1)/2)*2求得。

3.如权利要求2所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述R＝H1+H3；其中，H1为所述OCT图像顶端到被扫描样品处于第一位置时的距离，H3为所述第一位置到所述扫描单元的中心位置o的距离。

4.如权利要求3所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述H1＝h1*ratio_h；其中，h1为所述OCT图像顶端到所述第一位置的像素距离；ratio_h为实际距离和像素的比例关系，ratio_h＝dist/(h2-h1)；dist为所述样品由所述第一位置沿着扫描单元的中心位置o移动到第二位置的距离，h2为所述OCT图像顶端到所述第二位置的像素距离；h1和h2通过对所述OCT图像进行边界检测得到；所述OCT图像的横向像素数定义为W,纵向像素数定义为H。

5.如权利要求4所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：(α1)/2＝arctan((up_w–low_w)/2/dist)，H3＝2*tan((α1)/2)/up_w；

其中，up_w为所述样品处于所述第一位置时，所述扫描单元扫描所述样品的范围；low_w为所述样品处于所述第二位置时，所述扫描单元扫描所述样品的范围。

6.如权利要求5所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述样品分别处于所述第一位置和所述第二位置时，所述扫描单元扫描所述样品，得到第一OCT图像和第二OCT图像；所述第一OCT图像和所述第二OCT图像的横向像素数为所述W,纵向像素数为所述H。

7.如权利要求4所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述若干参数还包括扫描单元的探测深度h，h＝ratio_h*H。

8.如权利要求4-5中任一项所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述样品设置在一夹具上，通过移动夹具实现所述样品由所述第一位置移动到所述第二位置。

9.如权利要求5所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述up_w和所述low_w的值通过距离测量装置读出；所述距离测量装置暴露在所述OCT图像中。

10.如权利要求1-7中任一项所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述样品为条块状玻璃片。

11.如权利要求1-7中任一项所述的OCT图像的校正方法,其特征在于：所述扫描单元为X-Y振镜。