[发明专利]电容检测电路、触摸检测电路和具备该电路的半导体集成电路有效
申请号: | 201510272798.X | 申请日: | 2015-05-26 |
公开(公告)号: | CN105183248B | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 能登隆行 | 申请(专利权)人: | 辛纳普蒂克斯日本合同会社 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张涛;陈岚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 检测 电路 触摸 具备 半导体 集成电路 | ||
1.一种电容检测电路,包括:
第一运算放大器;
积分电容,其在所述第一运算放大器的第一输入端子与所述第一运算放大器的输出端子之间以能够使连接方向反转的方式进行连接;以及
输入开关,其连接在传感器电容与所述第一运算放大器的所述第一输入端子之间,
其中,根据对所述传感器电容进行充放电的电荷的移动方向,使相加到所述积分电容的所述电荷的极性反转。
2.根据权利要求1所述的电容检测电路,其中,每当使相加到所述积分电容的电荷的极性反转的动作重复进行时,都使所述积分电容短路以及初始化。
3.根据权利要求2所述的电容检测电路,还包括具备开关电容器的IIR滤波器,
其中,每当使相加到所述积分电容的电荷的极性反转的动作重复进行时,都将所述积分电容蓄积的电荷供给至所述IIR滤波器,并使所述积分电容短路以及初始化。
4.一种触摸检测电路,包括多个根据权利要求1所述的电容检测电路,
其中,所述多个电容检测电路能够与配置在触摸面板上的多个传感器电容连接。
5.一种半导体集成电路,包括:
半导体基板;以及
在所述半导体基板上设置根据权利要求4所述的触摸检测电路。
6.根据权利要求5所述的半导体集成电路,还包括在所述半导体基板上设置的显示驱动电路,
其中,该显示驱动电路被配置成对显示面板进行驱动和控制,所述显示面板包括所述触摸面板。
7.一种能够与传感器电容连接的电容检测电路,包括:
第一运算放大器;
积分电容,其在所述第一运算放大器的第一输入端子与所述第一运算放大器的输出端子之间以能够使连接方向反转的方式进行连接;以及
输入开关,其连接在所述传感器电容与所述第一运算放大器的所述第一输入端子之间,
其中,重复进行初始化期间、第一期间以及第二期间,
其中,在该初始化期间,将所述传感器电容充电到初始电位,并将所述积分电容短路以及初始化,
其中,在所述初始化期间之后关闭所述输入开关,
其中,在该第一期间,对所述第一运算放大器的第二输入端子施加与所述初始电位相比更高的第一电位,以及
其中,在该第二期间,对所述第一运算放大器的所述第二输入端子施加与所述初始电位相比更低的第二电位且所述积分电容的连接方向相较于所述第一期间时进行了反转。
8.根据权利要求7所述的电容检测电路,还包括:IIR滤波器,该IIR滤波器经由采样保持电路与所述第一运算放大器的输出端子连接,
其中,每次重新进行所述第一期间和所述第二期间时都设置所述初始化期间,以及
其中,在所述初始化期间,将所述第一运算放大器的输出经由所述采样保持电路传送至所述IIR滤波器。
9.一种触摸检测电路,其包括多个根据权利要求7所述的电容检测电路,
其中,所述多个所述电容检测电路能够与配置在触摸面板上的多个传感器电容连接。
10.一种半导体集成电路,包括:
半导体基板;以及
在所述半导体基板上设置的根据权利要求9所述的触摸检测电路。
11.根据权利要求10所述的半导体集成电路,还包括:在所述半导体基板上的显示驱动电路,
其中,该显示驱动电路被配置成对显示面板进行驱动和控制,所述显示面板包括所述触摸面板。
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