[发明专利]一种准直控制装置及方法

说明书

技术领域

本发明属于信号定位技术领域，尤其涉及一种准直控制装置及方法。

背景技术

导弹发射时需要对导弹进行定位，以便控制导弹对目标进行打击。对导弹进行定位时，需要在地面架设光电瞄准仪等设备，使光电瞄准仪对准导弹内的瞄准窗口，瞄准窗口内的平面直角棱镜会将光电瞄准仪发出的激光反射回去，实现准直控制。理想情况下，光电瞄准仪发出的激光会和平面直角棱镜反射的激光重合或小范围误差，即满足准直控制要求；当经过一定时间的采样计算后，根据已知的光电瞄准仪的位置信息就能确定导弹的位置，进而可以引导导弹攻击目标。

实际中，导弹通常设置在复杂的环境里，导弹定位会受到各个方面的干扰。如，当导弹自身弹长较大，在竖直放置时，会随着周围的风而发生晃动。此时，光电瞄准仪发出的激光和平面直角棱镜反射的激光无法重合或误差较大，导致采样时间太短，进而无法得到足够多的采样数据来对导弹进行定位，对于实战来说，可能带来严重的后果。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例期望提供一种准直控制装置及方法，至少能解决导弹定位过程中受干扰无法定位等技术问题。

本发明实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供了一种准直控制装置，所述装置包括：

反馈单元，用于反馈光信号；

信号发射接收单元，用于发射光信号，并接收所述反馈单元发来的对应所述光信号的反馈信号；

准直状态监控单元，用于监测所述反馈信号在所述信号发射接收单元上的停留时间得到驻留时间；

工况选择单元，用于根据所述驻留时间选择工作模式；

信号采样单元，用于根据所述工作模式对所述反馈信号进行采样得到采样信号；

控制信号生成单元，用于根据所述采样信号得到控制信号；

操作单元，用于根据所述控制信号对所述反馈单元进行控制。

上述方案中，所述准直状态监控单元包括：

感应子单元，用于监测所述反馈信号；

计时子单元，用于测量所述反馈信号的停留时间得到驻留时间。

上述方案中，所述工况选择单元包括：

工况判断子单元，用于根据所述驻留时间确定工作模式。

上述方案中，所述信号采样单元包括：

频率控制子单元，用于根据所述工作模式选择采样频率；

采样子单元，用于根据所述采样频率对所述反馈信号进行采样得到采样信号。

上述方案中，所述控制信号生成单元包括：

信号处理子单元，用于对所述信号采样单元采集的采样信号进行处理，得到控制信号。

本发明实施例还提供了一种准直控制方法，所述方法包括：

监测准直控制过程中反馈信号的驻留时间；

根据所述驻留时间选择准直控制的工作模式；

根据所述工作模式对所述反馈信号进行采样得到采样信号；

通过所述采样信号得到控制信号。

上述方案中，所述监测准直控制过程中反馈信号的驻留时间包括：

监测所述反馈信号；

测量所述反馈信号的停留时间得到驻留时间。

上述方案中，所述根据所述驻留时间选择准直控制的工作模式包括：

当所述驻留时间大于设定时间时，采用第一工作模式；否则，采用第二工作模式；所述第二工作模式的采样频率高于所述第一工作模式的采样频率。

本发明实施例所提供的准直控制装置及方法，通过准直状态监控单元监测反馈光信号的驻留时间，进而判断准直状态；根据准直状态选择工作模式，能够保证在存在外界干扰的情况下得到准确的准直控制。

附图说明

图1为实施例1的准直控制装置的组成结构示意图；

图2为实施例2的准直控制方法的实现流程图；

图3为实施例3的基本结构图；

图4为实施例3的信号时序图；

图5为实施例3的线阵CCD驱动及A/D转换器采样的示意图；

图6为实施例3的光斑采样隔点计算流程图；

图7为实施例3的控制流程示意图。

为了能明确实现本发明的实施例的结构，在图中标注了特定的尺寸、结构和器件，但这仅为示意需要，并非意图将本发明限定在该特定尺寸、结构、器件和环境中，根据具体需要，本领域的普通技术人员可以将这些器件和环境进行调整或者修改，所进行的调整或者修改仍然包括在后附的权利要求的范围中。

具体实施方式