[发明专利]晶圆级封装结构有效
申请号: | 201510260509.4 | 申请日: | 2015-05-20 |
公开(公告)号: | CN104900608B | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 高国华;郭飞 | 申请(专利权)人: | 通富微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/482 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 | 代理人: | 孟阿妮,郭栋梁 |
地址: | 226006 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶圆级 封装 结构 | ||
1.一种晶圆级封装结构,包括具有导电金属垫的芯片结构,其特征在于,还包括:
在所述芯片结构上形成有第一保护层,且所述第一保护层具有露出所述导电金属垫的开口,所述第一保护层的上表面具有凸起部,和凹陷部;
在所述第一保护层的上表面上形成有第二保护层,所述第二保护层也具有露出所述导电金属垫的开口,所述第二保护层的上表面具有凸起部,和凹陷部;
在所述第二保护层的上表面形成再布线层,且所述再布线层还覆盖于露出的所述导电金属垫,
所述第一保护层的所述凸起部和所述凹陷部、所述第二保护层的凸起部和凹陷部,均由不同波长的光线曝光而形成。
2.根据权利要求1所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
所述凸起部和所述凹陷部彼此间隔设置。
3.根据权利要求1所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
所述凸起部和所述凹陷部形成波浪面。
4.根据权利要求1-3任一项所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
在所述再布线层上形成有第三保护层;
所述第三保护层上形成有开口,露出所述再布线层;
在露出的所述再布线层上形成凸点结构。
5.根据权利要求4所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
所述第二保护层完全覆盖于所述第一保护层的上表面;
所述再布线层覆盖于第二保护层上表面的部分区域;
所述第三保护层形成于所述再布线层的上表面,以及形成于从所述再布线层露出的第二保护层的上表面上。
6.根据权利要求4所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
所述凸点结构与所述导电金属垫在水平方向上彼此位置错开。
7.根据权利要求5或6所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
所述第一保护层、第二保护层和第三保护层为聚酰亚胺保护层。
8.根据权利要求5或6所述的晶圆级封装结构,其特征在于,
所述芯片结构、所述第一保护层、所述第二保护层、所述第三保护层和所述凸点结构外周,包裹有树脂保护层,并且所述凸点结构的顶部从所述树脂保护层露出。
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