[发明专利]使用选择的像素阵列分析的光学安全监视

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求于2014年5月19日提交的题为“OPTICAL SAFETY MONITORING WITH SELECTIVE PIXEL ARRAY ANALYSIS(使用选择性的像素阵列分析的光学安全监视)”的序列号62/000,483的美国临时专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并到本文中。

技术领域

本文中公开的主题总体涉及光学领域监视，更具体地，涉及能够对于像素阵列的特定部分执行选择的飞行时间(TOF)分析的成像传感器。

发明内容

下面呈现了简化概述以提供对本文描述的一些方面的基本理解。本概述不是详尽的综述，也不旨在识别关键/重要元素或记述本文中所描述的各个方面的范围。其唯一的目的在于以简化的形式呈现一些概念作为稍后呈现的更详细描述的前序。

在一个或更多个实施例中，提供了一种成像传感器设备，其包括：像素阵列组件，其被配置成针对由成像传感器设备捕获的图像的像素阵列对像素阵列的像素进行分组以产生对其要执行二维(2D)分析的第一像素子集和对其要执行三维(3D)分析的第二像素子集；2D图像分析组件，其被配置成对第一像素子集执行2D分析；以及距离确定组件，其被配置成对第二像素子集执行3D分析。

此外，一个或更多个实施例提供一种用于监视图像数据的方法，包括：由包括至少一个处理器的成像传感器设备采集图像数据；基于图像数据生成像素阵列；将像素阵列的像素分组成至少一个第一像素组和至少一个第二像素组；对至少一个第一像素组执行二维(2D)成像分析；以及对至少一个第二像素组执行飞行时间(TOF)分析。

此外，根据一个或更多个实施例，提供了一种存储有指令的非暂态计算机可读介质，指令响应于执行来使成像传感器设备执行操作，操作包括：接收表示观看空间的图像的图像数据；基于图像数据来确定像素阵列的各个像素的值；识别对其要执行二维(2D)分析的第一像素子集；识别对其要执行飞行时间(TOF)分析的第二像素子集；对第一像素子集执行2D分析；以及对第二像素子集执行TOF分析。

为了实现前述及相关目的，在本文中结合下面的描述和附图描述了某些说明性方面。这些方面指示可以实践的各种方式，而所有这些方式均意在被本文涵盖。在结合附图进行考虑时，其它的优点和新颖特征可以根据以下详细描述变得明显。

附图说明

图1是示出了使用二维成像传感器进行的对象在X维和Y维中的2D检测的示意图。

图2A是示出了使用2D图像传感器进行的图像的2D图像分析的示意图。

图2B是示出了使用3D图像传感器进行的图像的3D图像分析的示意图。

图3是示例成像传感器设备的框图。

图4是示出了成像传感器设备的操作的概述的功能框图。

图5是示出了成像传感器设备的组件的框图。

图6是示例像素阵列分组的图示。

图7是示出了由成像传感器设备进行的2D(成像)和3D(距离)信息的关联性的框图。

图8是可以集成在成像传感器设备的一个或更多个实施例中的示例安全组件的框图。

图9是利用成像传感器设备的工业安全监视系统的示意图。

图10是利用成像传感器设备的示例自动化安全应用的图示。

图11是用于通过成像传感器设备对于像素阵列执行选择的三维分析的示例方法的流程图。

图12是用于动态地选择用于选择的3D分析的像素阵列的部分的示例方法的流程图。

图13是示例计算环境。

图14是示例网络化环境。

具体实施例

现在参照附图描述本公开内容，其中贯穿全文使用相似的附图标记指代相似的元件。在下面的描述中，为了说明的目的，阐述了大量的具体细节以便提供其透彻的理解。然而，会明显的是，可以在没有这些具体细节的情况下实践本公开内容。在其它实例中，以框图形式示出了公知的结构和设备以利于其描述。