[发明专利]I/O器件、用于向I/O器件提供ESD保护的方法和针对I/O器件的ESD保护器件

说明书

描述了一种用于向输入/输出(I/O)器件提供静电放电(ESD)保护的方法、针对I/O器件的ESD保护器件和I/O器件的实施例。在一个实施例中，用于向I/O器件提供ESD保护的方法涉及：在ESD事件期间，激活开关器件以便断开I/O器件；以及在不存在ESD事件的情况下，去激活开关器件以便接通I/O器件。还描述了其它实施例。

技术领域

本发明实施例通常涉及电子硬件和用于操作电子硬件的方法，更具体地，涉及静电放电(ESD)保护器件、集成电路(IC)器件和用于向IC器件提供ESD保护的方法。

背景技术

可以将ESD保护电路集成在IC芯片上以便提供到地的低阻抗通道，从而防止损坏IC芯片。例如，ESD保护电路可以用于通过将来自电源域(supply domain)的ESD电流分流到接地域，来防止IC芯片的电源域在ESD冲击(strike)期间过热。

通常，针对输入/输出(I/O)器件存在两种类型的ESD保护方案。一种ESD保护方案涉及将分流ESD保护器件与I/O器件并联，另一ESD保护方案涉及将ESD保护器件与I/O器件集成在一起。向I/O器件提供并联分流ESD保护可以提供良好的ESD保护。然而，由于ESD保护器件通常需要较大尺寸来满足ESD规范，因此具有并联分流ESD保护的I/O器件通常具有相对较大的电路占用空间(footprint)。关于占用空间尺寸，ESD自保护的I/O器件可以是更有效的。然而，对于具有并联分流ESD保护的I/O器件以及ESD自保护的I/O器件二者，由于I/O器件在ESD事件期间的未知状态，因此可能出现经过I/O器件的不希望的电流路径。因此，需要一种针对I/O器件的ESD保护器件，该ESD保护器件有效地使用电路基板面(real estate)同时防止由于I/O器件的未知状态而引起的经过I/O器件的不希望的电流路径。

发明内容

描述了用于向输入/输出(I/O)器件提供静电放电(ESD)保护的方法、针对I/O器件的ESD保护器件和I/O器件的实施例。在一个实施例中，用于向I/O器件提供ESD保护的方法涉及：在ESD事件期间，激活开关器件以便断开I/O器件；以及在不存在ESD事件的情况下，去激活(deactivating)开关器件以便接通I/O器件。相较于其它ESD保护方案，激活和去激活开关器件以便接通和断开I/O器件允许I/O器件在不存在ESD事件的情况下正常操作并在ESD事件期间关闭，以便防止ESD损坏。还描述了其它实施例。

在一个实施例中，用于向I/O器件提供ESD保护的方法涉及：在ESD事件期间激活开关器件以便断开I/O器件，以及在不存在ESD事件的情况下去激活开关器件以便接通I/O器件。

在一个实施例中，针对I/O器件的ESD保护器件包括：ESD元件，被配置为在ESD事件期间传导ESD电流；以及开关器件，被配置为在ESD事件期间被激活以便断开I/O器件，并在不存在ESD事件的情况下被去激活以便接通I/O器件。

在一个实施例中，I/O器件包括：与I/O端子相连的n沟道MOSFET(NMOS)I/O驱动电路；ESD元件，被配置为在ESD事件期间将ESD电流传导离开NMOS I/O驱动器；以及开关器件，被配置为在ESD事件期间被激活以便断开NMOS I/O驱动电路，并在不存在ESD事件的情况下被去激活以便接通NMOS I/O驱动电路。

根据结合附图的以下详细描述，将清楚本发明实施例的其它方面和优点，其中附图是以本发明的原理为例描绘的。

附图说明

图1是根据本发明实施例的IC器件的示意框图。

图2示出了图1所示的IC器件的实施例，其中该实施例使用触发器件来控制开关器件。

图3示出了根据本发明实施例的包括图2所示的IC器件的IC芯片。

图4示出了图1所示的IC器件的另一实施例，其中该实施例使用触发器件来控制开关器件。