[发明专利]数字比较器有效

专利信息
申请号: 201510247522.6 申请日: 2015-05-15
公开(公告)号: CN105180856B 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 藤川勇二 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 曲莹
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 数字 比较
【说明书】:

提供一种比较器,其包括:大致上U形的构架;测砧,其以可前进和可缩回的方式被支撑在构架的一端部;轴,其以可前进和可缩回的方式与测砧同轴地被支撑在构架的另一端部;测量单元,其测量测砧的前进和缩回;以及显示单元,其显示测量单元的测量结果。所述测量单元包括:测砧接触部,其依照测砧的前进和缩回绕支持轴旋转;联锁部,其形成为具有比测砧接触部更大的长度、被支撑从而绕支持轴可旋转、并且联接至测砧接触部;以及检测单元,其检测联锁部旋转的位移。

相关申请的交叉引用

本申请基于2014年5月15日提交的2014-101488号日本专利申请并要求其优先权权利,其全部公开在此通过引用并入本文。

技术领域

本发明涉及数字比较器。

背景技术

已知比较器作为一种测量器械测量工件相对于标准工件(master workpiece)的尺寸差值。例如,公开在2002-131004号日本未审查专利申请公开中的比较器包括构架、设置在构架上的轴和测砧、偏置装置、分隔装置、指示器,以及指示器驱动装置。

轴和测砧被构架支撑以便在其轴向方向上可前进和可缩回,从而移向或远离彼此。偏置装置设在构架上并且使测砧朝向轴偏置。分隔装置抵靠偏置装置相对于轴使测砧缩回。指示器驱动装置设在构架上并且将测砧的运动传递至指示器。

为了在上文描述的结构中测量工件相对于标准工件的尺寸差值,首先通过分隔装置远离轴被缩回。随后,标准工件插入测砧与轴之间,分隔装置的分隔操作被释放以通过偏置装置使测砧朝向轴轴前进。

因此,标准工件保持在测砧与轴之间。此时,轴在其轴向方向移动或者指示器的标度盘旋转,从而进行指针的调零。随后,在测砧被分隔装置缩回从而使标准工件与比较器分开之后,工件以相同的操作被保持并且在测砧与轴之间被测量。因此,可以测量指示器的数值作为工件相对于标准工件的尺寸差值。

发明内容

近些年,例如,为了阻止在测量领域中读数值时的人为错误、消除读数值时的错误,以及直接将测量结果的数据加载至诸如PC的测量系统中,出现了对于比较器数字化的需求。

为使比较器数字化,有必要使用电池供电的比较器,其便于手持并且易于测量,以并入数字化显示(替代使用外部数字化显示)。如在读取机械指示器的标尺的情况下,还有必要对比对应于标尺的一个分度(1微米)的数值更小的数值进行数字化。

然而,为了数字地显示比对应于标尺的一个分度(1微米)的数值更小的尺寸差值,需要分辨率小于1微米的传感器。但是,没有分辨率小于1微米的电池供电传感器,因此,不能实现比较器的数字化。

本发明可以解决上述问题,并且本发明的目标是提供一种数字比较器。

本发明的一示例性方面是一种比较器包括:大致上U形的构架;以可前进和可缩回的方式被支撑在构架一端部的测砧;以可前进和可缩回的方式被支撑在构架的另一端部的与测砧同轴的轴;测量测砧前进和缩回的测量单元;以及显示测量单元的测量结果的显示单元。该测量单元包括:依照所述测砧的前进和缩回绕支持轴旋转的测砧接触部;形成为长度比测砧接触部的长度更大的、被支撑从而绕支持轴可旋转的、并且联接至测砧接触部的联锁部;以及检测联锁部旋转位移的检测单元。用该结构,轴的位移可以通过联锁部放大并且通过检测单元检测。

根据本发明,可以提供数字比较器。

附图说明

从下文中给出的详细说明以及仅以说明的方式给出并不限制本发明的所附附图中,将更加充分的理解本发明的上述以及其他的目标、特性,以及优点。

图1是示出根据本发明的一示例性实施例的比较器的部分的侧表面以及横截面的图形;

图2是示出根据本发明的所述示例性实施例的比较器的部分的侧表面以及横截面的图形;

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