[发明专利]Bix(Bi0.5Na0.4K0.1)1-xTi1-xMexO3无铅反铁电高储能密度陶瓷及其制备方法在审
申请号: | 201510245228.1 | 申请日: | 2015-05-14 |
公开(公告)号: | CN104891986A | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
发明(设计)人: | 袁昌来;周星星;冯琴;刘笑;周昌荣;杨涛;许积文;黎清宁;陈国华 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | C04B35/462 | 分类号: | C04B35/462;C04B35/622 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 罗玉荣 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | bi sub 0.5 na 0.4 0.1 ti me 无铅反铁电高储能 密度 陶瓷 及其 制备 | ||
技术领域
本发明属于储能陶瓷电容器制造领域,具体涉及到Bix(Bi0.5Na0.4K0.1)1-xTi1-xMexO3无铅反铁电高储能密度陶瓷及其制备方法。
背景技术
高储能密度电容器的发展已有50多年的历史,由于其具有的瞬时脉冲能力而成为军事领域的终极武器。如导弹防御系统、军舰防护系统,都需要用到定向高能激光,然而,驱动如此大功率的激光,需要大功率的脉冲电力系统。使用储能膜密度低的驱动介质,将会带来较大的体积和吨位,而这不利于军用系统的隐形,使得其很容易成为攻击目标。为适应未来作战系统轻量化、微型化、高度集成化电子设备的需要,意味着必须开发储能密度更高的储能电容器来满足军事领域的需求。
根据经典电磁学理论的定义,材料的储能密度是指单位体积所容纳的电能,普通使用的单位为J/cm3。在电场强度为E的电场下,电位移D的微小变化量dD引起的能量变化量为EdD。储能密度可以用式(1)表示:
式中:J为储能密度,Dmax为饱和场强下电位移。对于铁电、反铁电电介质而言,其储能密度取决于击穿场强的大小、剩余极化强度和饱和极化强度之间的差值以及电滞回线的闭合面积。因此,要使得材料电滞回线的上方段饱和极化强度Ps尽量大、电场强度E尽量高、剩余极化值Pr尽量小,从而提高储能值。
而对于电滞回线表现为近似一根直线的电介质,此时储能密度为:
公式(2)意味着对电滞回线近似线性的储能材料,其介电常数、耐电压E越大,储能密度也就越高。因此,这类高储能密度材料应具有高的介电常数、高耐压、损耗低的特点。
Bi0.5Na0.5TiO3是一类经典的无铅介电、铁电、压电材料,具有较高的Pr值和低的损耗,是传统的铁电体。然而,由于其具有高的Pr值和承受相对低的电场强度,使得其储能密度较低。
发明内容
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