[发明专利]一种基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法有效
申请号: | 201510243254.0 | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN104948177B | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 程道解;万金彬;李东平;白松涛;刘来垒;曾静波;龚守捍;黄科;赵建斌;杨玲 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团公司;中国石油集团测井有限公司 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 米产液 指数 统计 特征 规律 产能 预测 方法 | ||
1.一种基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1)采用至少两种有效储层下限确定方法,互相印证确定当前条件下有效储层物性下限;
步骤2)统计米产液指数并确定试油法下限;
步骤3)三孔隙度-米产液指数交会基础模型建立;
步骤4)确定预测区间,预测产能的下限通过一定误差区间上的高泥质含量点给出,当泥质误差区间为6%时,最小米产液指数的计算模型为:
IyeildMin=a*(AC-ACcutoff)*(lg50-lgVsh-lg6)/lg50
其中,a为“纯岩石+充分成藏”线在双线性图版中的斜率;AC为三孔隙度测井中的声波时差测量值;ACcutoff为有效储层下限对应的声波时差测井响应值;Vsh为储层泥质含量;
步骤5)层内非均质修正;
步骤6)变下限修正。
2.根据权利要求1所述的基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法,其特征在于:所述步骤1)中,有效储层下限确定方法包括含油产状法、储能/产能丢失率法、试油法以及基于压汞资料的最小孔喉半径法。
3.根据权利要求1所述的基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法,其特征在于:所述步骤2)中,统计米产液指数并确定试油法下限的具体方法是:对区块试油资料进行气、油、水初期日产量折算成无差别的产液量,并逐层统计有效厚度,扣除部分层内夹层的厚度,获取折算产液量与有效厚度的比值,得到储层的米产液指数;读取能够代表储层特征的三孔隙度测井响应值,利用三孔隙度测井响应值中的任意一个与米产液指数建立交会图,在米产液指数降为0且大量试油干层出现的地方确定三孔隙度测井的下限响应。
4.根据权利要求3所述的基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法,其特征在于:所述步骤3)中,建立三孔隙度-米产液指数交会基础模型的具体方法是:根据统计特征,在步骤2)中建立的交会图上找到一条“纯岩石+充分成藏”边界线,代表该地区一定孔隙度的最纯岩石在地区地质油藏条件下最大产液能力;该线切向方向代表了有效孔隙变化方向,法线方向代表了泥质含量变化的方向;同时以下限点构建一系列等泥质线,得到基于声波时差、泥质的基本产能图版;该图版可以给出确定声波时差、泥质含量条件下,储层在局部地区的最大统计米产液指数,作为预测产能的上限。
5.根据权利要求1所述的基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法,其特征在于:所述步骤5)中,层内非均质修正的具体方法是:
引入层内非均质参数对上述模型进行修正;利用加权后的层内标准方差修正基础产能公式,即Iyeild'=Iyeild(1-Ihe);其中,Iyeild'为层内非均质修正后米产液指数;Iyeild为层内非均质修正前米产液指数;Ihe为归一化后自然伽马、声波时差、深电阻率、冲洗带电阻率四条曲线的层内标准方差的均值。
6.根据权利要求1所述的基于米产液指数统计特征规律的产能预测方法,其特征在于:所述步骤6)中,变下限修正的具体方法是:
统计区块下限随深度变化的近似规律,某区块下限变化近似为:
ACcutoff=231.9-(VDep-3103)*21.2/799
其中VDep为储层垂深;
最终,预测产液量Q的表达式如下:
其中,N为层段内有效储层统计区间个数;IyeildMin为最小米产液指数;Hi为统计区间厚度;Cφ为有效孔隙度测井响应值;Vsh为泥质含量值;VDep为储层垂深;Ihe为层内非均质指标,由电阻率、伽马及孔隙度曲线层内非均质统计量共同组成。
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