[发明专利]基于双壁双投影透照图像的管焊缝缺陷自动识别的方法有效
申请号: | 201510237797.1 | 申请日: | 2015-05-11 |
公开(公告)号: | CN104865277B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 刘奇;李昌聪;何凌;黄韫栀 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G06T7/00;G06K9/46 |
代理公司: | 成都虹桥专利事务所(普通合伙)51124 | 代理人: | 吴中伟 |
地址: | 610065 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 双壁双 投影 透照 图像 焊缝 缺陷 自动识别 方法 | ||
1.基于双壁双投影透照图像的管焊缝缺陷自动识别的方法,其特征在于,包括以下步骤:
A.对X射线双壁双投影透照法得到的焊缝图像进行预处理
B.基于预处理后的焊缝图像,将焊缝图像的ROI区域标记为母材区域和焊缝区域;
C.在各标记区域内,结合焊缝的几何形态特征、图像的灰度特征以及缺陷的位置信息,判别对接管焊缝是否存在缺陷;
步骤B中,利用图像灰度信息对基于预处理后的焊缝图像ROI区域中的焊缝区域和母材区域进行标记,具体方法是:
B1.对焊缝的标记:
在该步骤中,对包含上焊缝的左边部分图像Ileft做列向积分,得到列向积分曲线图,计算该曲线上幅度值为0.8*maxleft的两点的横坐标值,其中maxleft为左部分图像列向积分曲线的最大值;左部分图像中的焊缝区域Iweld_left为这两个横坐标之间的图像;对包含下焊缝的右边部分图像Iright做相同的处理,得到右边部分图像中的焊缝区域Iweld_right;
B2.对母材的标记:
在该步骤中,将图像中除焊缝区域外的区域标记为母材区域,则左、右部分母材区域的计算范围分别为:
Ibase_left=Ileft-Iweld_left,Ibase_right=Iright-Iweld_right。
2.如权利要求1所述的基于双壁双投影透照图像的管焊缝缺陷自动识别的方法,其特征在于,步骤C中,所述判别对接管焊缝是否存在缺陷包括对焊缝区域是否存在缺陷的检测,其步骤包括:
C1.对左部分焊缝区域图像Iweld_left进行二值化处理,二值化后的图像为Iweld_binary,二值化的阈值为:Tweld=0.8×Avgweld,其中,Avgweld为左部分焊缝区域图像Iweld_left的全局灰度平均值;
C2.对二值化图像Iweld_binary计算连通域个数,如果连通域的个数为大于1,则判定该焊缝区域中存在较大面积缺陷;若连通域的个数等于1,则进入步骤C3;
C3.在二值化图像Iweld_binary中,计算灰度值为0的连通域中每一行的宽度dw和连通域的高度h:如果连通域宽度dw和高度h满足下列条件,则判定该焊缝区域中存在较大面积缺陷:min(dw)<10像素,或者max(dw)-min(dw)>20像素,或者其中,w=1,2,...,M,M为焊缝区域图像Iweld的高度;
若连通域宽度dw和高度h不满足上述条件,则进入步骤C4;
C4.对左部分焊缝区域图像Iweld_left计算灰度方差图像Iweld_variance;对该方差图像进行二值化处理,二值化后的图像为Iweld_variance_binary,二值化的阈值为:Tweld_variance=1.2×Avgweld_variance,其中,Avgweld_variance为左部分焊缝区域灰度方差图像Iweld_variance的全局灰度平均值;
对二值化图像Iweld_variance_binary计算各个连通域的面积,如果有连通域的面积大于4个像素点,则判定该焊缝区域中存较小面积缺陷;
C5.对右部分焊缝区域图像Iweld_right进行与左部分焊缝区域图像Iweld_left如步骤C1-C4相同的处理,进而判断右部分焊缝区域图像Iweld_right是否存在缺陷。
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