[发明专利]一种平板开口波导阵列天线幅相分布特性测量装置及方法在审
| 申请号: | 201510237703.0 | 申请日: | 2015-05-11 |
| 公开(公告)号: | CN104897975A | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
| 发明(设计)人: | 雷炳新;吴知航;王岩;朱劼;章朋;徐文虎 | 申请(专利权)人: | 南京肯微弗通信技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R25/00 |
| 代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 李倩 |
| 地址: | 211111 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 平板 开口 波导 阵列 天线 分布 特性 测量 装置 方法 | ||
1.一种平板开口波导阵列天线幅相分布特性测量装置,其特征在于:包括天线分析仪、待测天线、直波导同轴转接器、直角波导同轴转接器、方矩转换和圆矩转换,所述天线分析仪包括第一端口和第二端口,其中第一端口连接有测试电缆,而测试电缆的另一端与直波导同轴转接器连接,所述圆矩转换的一侧与与直波导同轴转接器固接,另一侧为与待测天线输入总口匹配的插头;所述第二端口连接有测试电缆,且该测试电缆另一端与直角波导同轴转接器连接,所述方矩转换的一侧与直角波导同轴转接器固接,另一侧与待测天线波导口匹配。
2.根据权利要求1所述平板开口波导阵列天线幅相分布特性测量装置,其特征在于:所述天线分析仪为矢量网络分析仪。
3.根据权利要求1所述平板开口波导阵列天线幅相分布特性测量装置,其特征在于:所述方矩转换的结构的两端分别为方波导口和矩形波导口;所述圆矩转换的两端分别为圆波导口和矩形波导口。
4.根据权利要求1所述平板开口波导阵列天线幅相分布特性测量装置,其特征在于:所述直波导同轴转接器具有与波导方向一致的同轴接头,该同轴接头并安装在波导端面上;所述直角波导同轴转接器具有与波导方向垂直的同轴接头,该同轴接头安装在报道的侧面上。
5.一种基于权利要求1~4任一所述测量装置的平板开口波导阵列天线幅相分布特性的测量方法,包括以下步骤:
(1)首先,采用波导TRL法对天线分析仪进行校准,消除测试链路中测试电缆、直波导同轴转接器和直角波导同轴转接器及其连接的不连续性对测试结构的影响;
(2)将方矩转换和圆矩转换分别与对应测试电缆的直角波导同轴转接器和直波导同轴转接器连接;
(3)然后,将圆矩波同插入待测天线的输入总口,此时将弯矩波同插入开口波导单元口,并保证天线口面正对吸波材料,并利用天线分析仪记录两个端口间的幅度值和相位值;
(4)接着,将方矩转换旋转90度,并测试记录另外一路极化对应的幅度值和相位值;
(5)接着将弯矩波同插入其余的开口波导单元,并重复步骤(3)和(4),完成整个阵面所有开口波导单元的测试。
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