[发明专利]α与β的粒子活度探测装置

权利要求书

1.一种α与β的粒子活度探测装置，其特征在于，包括：

闪烁光纤束，所述闪烁光纤束包括多根彼此间隔开的闪烁光纤；

第一光电倍增管和第二光电倍增管，所述第一光电倍增管和所述第二光电倍增管分别与所述闪烁光纤束的一端和另一端耦合，用于接收来自所述多根闪烁光纤的光子，并将所述光子转化为电信号；

第一光电倍增管附加电路和第二光电倍增管附加电路，所述第一光电倍增管附加电路和所述第一光电倍增管相连，所述第二光电倍增管附加电路与所述第二光电倍增管相连，用于为所述第一光电倍增管和第二光电倍增管供电，以及放大所述电信号；

第一输出端和第二输出端，所述第一输出端与所述第一光电倍增管附加电路相连，所述第二输出端与所述第二光电倍增管附加电路相连；

密封组件，所述第一光电倍增管和第二光电倍增管、所述第一光电倍增管附加电路和第二光电倍增管附加电路密封在所述密封组件内；

处理器，所述处理器分别与第一输出端和所述第二输出端相连，以根据放大后的电信号分析溶液中α粒子和/或β粒子的活度；

控制装置，所述控制装置分别与所述第一光电倍增管附加电路、所述第二光电倍增管附加电路和所述处理器相连，当所述第一光电倍增管附加电路与所述第二光电倍增管附加电路同时获取所述电信号时，控制所述处理器工作；

第一冷却装置和第二冷却装置，所述第一冷却装置和所述第二冷却装置分别与所述第一光电倍增管和所述第二光电倍增管的所述密封组件相连，以降低所述密封组件内的光电倍增管的温度。

2.根据权利要求1所述的α与β的粒子活度探测装置，其特征在于，所述处理器通过能谱分析判断所述粒子为所述α粒子或所述β粒子。

3.根据权利要求1所述的α与β的粒子活度探测装置，其特征在于，所述密封组件包括第一密封套筒与第二密封套筒，所述第一光电倍增管和所述第一光电倍增管附加电路密封在所述第一密封套筒内，所述第二光电倍增管和所述第二光电倍增管附加电路密封在所述第二密封套筒内。

4.根据权利要求1所述的α与β的粒子活度探测装置，其特征在于，还包括：位于所述闪烁光纤束中间的固定板，所述固定板具有多个孔洞，所述多根闪烁光纤一一对应地穿过所述多个孔洞。

5.根据权利要求1所述的α与β的粒子活度探测装置，其特征在于，还包括：至少一个γ射线探测器，所述至少一个γ射线探测器与所述处理器相连，用于检测所述溶液中γ射线的强度，并扣除所述γ射线对所述α与β的粒子活度探测装置的影响。