[发明专利]一种基于相位处理的电机测速系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种电机测试系统，具体是指一种基于相位处理的电机测速系统。

背景技术

随着国民经济和科学技术的发展，电机在各行各业中发挥的作用越来越重要。同时，随着各行业的发展，对电机产品提出了越来越高的要求，所以电机产品需要通过一些试验项目来验证其特性是否达到应用要求。因此，电机测试技术对于电机的性能验证具有相当重要的意义。

然而，传统的电机测试系统在测试电机转速时其稳定性不高，在很大程度上影响了测试人员对电机性能的判断。因此，提供一种简单且稳定性高的电机测试系统则是目前的当务之急。

发明内容

本发明的目的在于克服传统的电机测试系统其稳定性低的缺陷，提供一种基于相位处理的电机测速系统。

本发明的目的通过下述技术方案实现：一种基于相位处理的电机测速系统，由单片机，与单片机相连接的电源模块、电机转速控制模块、显示器，与电机转速控制模块相连接的被测电机，与被测电机相连接的速度传感器，与速度传感器相连接的转速信号处理模块，所述电机转速控制模块还与电源模块相连接，为了达到本发明的目的，本发明在转速信号处理模块与单片机之间还设置有相位处理电路。

进一步的，所述相位处理电路由触发芯片U2，放大器P1，或非门A3，三极管VT5，负极与放大器P1的正极相连接、正极则与放大器P1的输出端一起作为该相位处理电路的输入端的极性电容C8，一端与放大器P1的负极相连接、另一端接地的电阻R11，串接在放大器P1的正极和输出端之间的电阻R10，负极与触发芯片U2的PRE管脚相连接、正极则经电阻R12后与或非门A3的正极相连接的极性电容C9，正极与或非门A3的负极相连接、负极接地的极性电容C10，一端与触发芯片U2的Q1管脚相连接、另一端则与三极管VT5的发射极相连接的电阻R13，以及一端与触发芯片U2的CLR管脚相连接、另一端则与三极管VT5的集电极相连接的电阻R14组成。所述放大器P1的输出端与极性电容C9的正极相连接；所述触发芯片U2的D管脚与或非门A3的输出端相连接、其CLK管脚则与极性电容C10的负极相连接、其CLR管脚接地、Q2管脚则与三极管VT5的基极相连接；所述三极管VT5的发射极与其集电极一起作为该相位处理电路的输出端。

所述转速信号处理模块由信号筛选电路，与信号筛选电路相连接的信号处理电路，以及与信号处理电路相连接的变压输出电路组成。

所述的信号筛选电路由辅助芯片U，三极管VT1，三极管VT2，与非门A1，与非门A2，负极与辅助芯片U的VIN管脚相连接、正极则经电阻R1后与三极管VT1的发射极相连接的极性电容C1，正极与辅助芯片U的LX管脚相连接、负极则与三极管VT2的集电极相连接的极性电容C2，正相端与辅助芯片U的PGND管脚相连接、反相端则与与非门A2的负极相连接的倒相放大器D1，负极与与非门A1的负极相连接、正极则经电阻R2后与三极管VT2的发射极相连接的极性电容C3，以及负极接地、正极则经电阻R3后与与非门A2的正极相连接的极性电容C4组成；所述辅助芯片U的LX管脚与三极管VT1的集电极相连接、其OUT管脚则与与非门A2的负极相连接、GND管脚接地，所述与非门A2的输出端与信号处理电路相连接、其正极则分别与与非门A1的输出端以及信号处理电路相连接，所述与非门A1的正极与三极管VT2的集电极相连接、其负极则与信号处理电路相连接；所述极性电容C4的正极还与信号处理电路相连接；所述三极管VT1的基极和三极管VT2的基极一起作为该信号筛选电路的输入端。