[发明专利]一种移动终端天线测试方法及装置

说明书

本发明公开一种移动终端天线测试方法及装置，其中，方法包括步骤：A、将移动终端放置在暗室转台上，并通过暗室通信天线连接上基站仿真器；B、暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站仿真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；C、使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据，然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。本发明通过插值运算，最终获得第二角度步长的实际测试结果。本发明可极大的缩短测试时间，而测试结果的误差小，通过本发明的方法提高了天线测试效率，降低了测试成本。

技术领域

本发明涉及天线测试领域，尤其涉及一种移动终端天线测试方法及装置。

背景技术

移动终端进入4G时代以后，天线性能变得更加重要。好的天线性能可以带给用户更好的宽带移动互联体验，特别是接收性能好的终端可以提供更快的下载速度。为了提升天线性能，天线的测试系统是重要的研发平台，作用不可或缺。典型的天线设计链路为设计天线模式、测试、根据测试结果再次优化、再测试，直到得到最佳性能。在整个链路中，测试尤其是接收灵敏度测试(Total Isotropic Sensitivity，TIS)非常耗时。典型的TIS测试，需要对天线转台的theta角度0到180°，30°步长，phi角度0到360°,30°步长，一个信道的测试总时长可高达60分钟。因此高效率的天线测试系统可以帮助研发人员在最短的时间能获得最优的天线性能。

进入4G时代后，移动终端的频段和制式比以前增加很多。例如，典型的中国移动5模12频的终端可以支持，GSM/WCDMA/TD-SCDMA/FDD-LTE/TDD-LTE 5种模式，而频段上，可以支持B1/2/3/7/5/8/17/34/39/38/40/41频段，覆盖的范围从700MHz到2.6GHz，调试难度明显增加，测试的时长显著增长。12个频段，使用标准的CTIA规范的On-The-Air(OTA，有源测试)测试方法，测试发射Total Radiated Power(TRP，总发射功率)和接收Total IsotropicSensitivity(TIS，接收灵敏度)的性能，平均需要12*90*3分钟(一个信道TRP 30分钟，TIS60分钟，一个频段按照CTIA测试方法需要测试高中低3个信道)＝3240分钟即54小时。 在调试阶段，需要不停的进行这些测试；在量产验证阶段，需要测试多批次多台(通常超过5台)样机。而用于进行OTA测试的暗室造价高达上千万元人民币，每小时测试单价1000-3000元不等。超长的测试时间会造成巨大的测试成本和测试资源压力。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种移动终端天线测试方法及装置，旨在解决现有天线测试方法测试时间长、效率低、成本高等问题。

本发明的技术方案如下：

一种移动终端天线测试方法，其中，包括步骤：

A、将移动终端放置在暗室转台上，并通过暗室通信天线连接上基站仿真器；

B、暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站仿真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；

C、使用插值计算获得从第一角度转换到第一角度的数据，所述第二角度小于第一角度，然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。

所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C中，插值计算采用二维插值算法。

所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C具体包括：

将每列数据从45度转换到30度：