[发明专利]对旋转对称主体进行定位且对准的装置有效
| 申请号: | 201510219921.1 | 申请日: | 2015-05-04 |
| 公开(公告)号: | CN105223966B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
| 发明(设计)人: | W.福尔茨;H.蒂勒;P.布斯 | 申请(专利权)人: | 赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所 |
| 主分类号: | G05D3/00 | 分类号: | G05D3/00;G01N3/42;G01N3/02 |
| 代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李晨;董均华 |
| 地址: | 德国辛*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基本元件 接纳器 棱柱 定位元件 旋转对称 测量装置 对准 测量 运动路径 靠接 配置 支撑 | ||
本发明涉及一种对旋转对称主体进行定位且对准的装置,特别地相对于测量装置(19)来进行定位且对准,所述测量装置(19)用于实施在旋转对称主体(28)上的测量,所述装置具有基本元件(24),所述基本元件具有在销(23)上的接触表面(22)或者配置至接触表面(22),所述旋转对称主体(28)被支撑在所述接触表面上以实施所述测量,其中,能够相对于所述接触表面(22)运动的定位元件(41)设置在所述基本元件(24)上,所述定位元件(41)包括棱柱接纳器(64),其中,所述接触表面(22)定位在所述棱柱接纳器(64)内或者靠接至所述棱柱接纳器上,并且所述定位元件(41)朝着所述基本元件(24)的运动路径至少对应于棱柱接纳器(64)的高度。
技术领域
本发明涉及一种相对于用于在主体上实施测量的测量探针来对旋转对称主体进行定位且对准的装置。
背景技术
为了接纳旋转对称主体(例如,轴),使用测量棱柱是已知的,使用所述测量棱柱,支撑在所述测量棱柱上的旋转对称主体的位置是固定的。这样的测量棱柱具有两个表面,所述两个表面成一特定角度而彼此对准,并且所述两个表面以V形相互附接,由此旋转对称主体(例如轴)正切地靠接在两个表面的每者上。这样的测量棱柱实际上使得旋转对称主体的位置能够关于测量棱柱而固定,然而以这种方式相对于测量装置准确的定位旋转对称主体是不可能的。特别地,在旋转对称主体上的测量点的变化取决于旋转对称主体的直径。
在对旋转对称主体上的表面(例如,漆层、电镀层、硬质材料、聚合物或未经涂覆的板材料表面或相似物)进行硬度测量期间,使用硬度测量装置,例如“FISCHERSCOPE HM2000S”。这样的硬度测量装置包括台架,所述台架具有测量壳体,其中压头作为测量装置的一部分来布置。此压头布置在销的接触表面内。所述平面材料应用至接触表面并且借助于台架的按压件按压至接触表面上以便执行所述测量。因此所述压头负荷有预定的力并且穿透所述主体。在旋转对称主体的情况下,所述旋转对称主体可被支撑在接触表面上,然而不能相对于压头以高等级的重复准度准确地对准,使得压头在壳表面的最高或最低点处垂直于旋转主体的轴线进行穿透,由此,测量具有误差。
发明内容
本发明的目的是创造一种相对于测量装置来对旋转对称主体进行定位且对准的装置,所述装置使得这样的旋转对称主体能够相对于测量装置可靠地且准确地定位且对准,而与不同的直径无关。
该目的是由对旋转对称主体进行定位且对准的装置来解决的,该装置包括基本元件,所述基本元件具有接触表面,在基本元件上设置了能够相对于接触表面运动的定位元件,所述定位元件包括棱柱接纳器,其中,具有接触表面的销定位在棱柱接纳器内或者靠接至该棱柱接纳器上,并且定位元件相对于在基本元件上的销的接触表面的运动路径至少对应于棱柱接纳器的高度。由于该接纳器,可行的是,旋转对称主体通过棱柱接纳器相对于定位元件固定就位,其中,定位元件能够以限定的行进运动相对于接触表面运动,使得旋转对称主体停止在接触表面上,而与定位元件和基本元件之间的运动路径无关并且与旋转对称主体的直径无关,并且同时由棱柱接纳器固定就位。因此,为测量装置提供固定的测量点或固定的测量平面,而与旋转对称主体的尺寸或直径无关,其中,同时,旋转对称主体相对于测量平面或接触表面的对准由棱柱接纳器来提供。因此,可行的是,待执行的测量出现在旋转对称主体上在最低或最高点处,并且因此由于重复的准度,提供了高等级的测量质量。
在该装置中,优选提供的是,定位元件的棱柱接纳器包括通孔,所述销在该通孔内延伸,并且基本元件上的销的纵向轴线处于棱柱接纳器的表面或表面部分之间的相交处中,所述表面或表面部分配置至彼此。因此,不仅是旋转对称主体的轴线与销的轴线相交,而且此外,固定的测量点相对于接触表面而形成,而与旋转对称主体的直径无关。
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