[发明专利]用于荧光测温系统的信号处理方法有效
| 申请号: | 201510211971.5 | 申请日: | 2015-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN105157871B | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
| 发明(设计)人: | 顾一驰;张辉 | 申请(专利权)人: | 苏州光格设备有限公司 |
| 主分类号: | G01K11/32 | 分类号: | G01K11/32 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凯 |
| 地址: | 215123 江苏省苏州市苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信号处理 荧光强度信号 测温系统 荧光寿命 荧光信号 荧光 过滤处理 计算处理 噪声幅度 转换关系 灵敏度 标定 比对 测温 去噪 过滤 采集 | ||
1.一种用于荧光测温系统的信号处理方法,其特征在于,包括:
根据荧光强度信号在固定时间内的噪声幅度分布和信噪比对采集的荧光信号进行过滤处理并对过滤后的所述荧光信号进行去噪处理;
计算处理后的荧光信号的荧光寿命;
获取所述荧光寿命和温度的转换关系以标定温度;
所述计算处理后荧光信号的荧光寿命时,采用差分算法或非线性最小二乘Levenberg-Marquart拟合算法计算处理后荧光信号的荧光寿命;
所述差分算法包括双步长差分算法和多项式差分算法;
所述双步长差分算法采用以下公式计算荧光寿命:
或者
其中,a和b为设置的两个步长参数,T0为自然数,R1(t,a,b)=D(t+b,a)/D(t,a),D(t,a)=M(t+a)-M(a),M(t)为所述对采集的荧光信号进行过滤和去噪处理后获取的荧光信号的衰减曲线。
2.根据权利要求1所述的信号处理方法,其特征在于,所述对过滤后的荧光强度信号进行去噪处理时,采用小波变换、定长积分或均值算法对所述荧光信号进行去噪处理。
3.根据权利要求1所述的信号处理方法,其特征在于,所述多项式差分算法采用以下公式计算荧光寿命:
荧光寿命τ=-a/log(r);
其中,r是多项式或者多项式的根,n和a是大于1的自然数,T0为自然数,R2(t,n,a)=D(t,na)/D(t,a),D(t,a)=M(t+a)-M(a),M(t)为所述对采集的荧光信号进行过滤和去噪处理后获取的荧光信号的衰减曲线。
4.根据权利要求1-3任一所述的信号处理方法,其特征在于,所述获取荧光寿命和温度的转换关系时,采用最小二乘法进行以下多项式拟合以获取荧光寿命和温度的转换关系:
H=c0+c1τ+...+cnτn;
其中,H表示温度,τ表示荧光寿命,(c0,c1,...,cn)表示多项式系数。
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