[发明专利]球体直径测量仪

说明书

技术领域

本发明涉及测量工具，尤其涉及一种球体直径测量仪。

背景技术

目前用于检测球体直径的测量仪器有游标卡尺、高度尺、外径千分尺等常规通用测量工具，由于球体的结构特性，在测量过程中该类常规通用测量工具无法准确地夹持在被测球体的直径部位，而且在夹持时被测球体也极易发生偏移现象，这样就无法精确地测量出被测球体的直径，而且该类常规通用测量工具自身的精度值比较低，这样就会大大降低该类常规通用测量工具的测量精度及重复精度，测量精度最高只能精确到0.02㎜，重复精度最高只能精确到0.02㎜，因而该类常规通用测量工具只能用于测量精度要求不高的球体。用于精密设备或其他设备中的高精度球体一般采用三坐标测量机对其进行测量，但是三坐标测量机的造价十分昂贵，一台三坐标测量机售价约为50万～500万，使用成本十分昂贵，并不适用于小规模生产中作为测量工具使用。

发明内容

本发明所需解决的技术问题是：提供一种使用成本低且检测精度和重复精度均较高的球体直径测量仪。

为解决上述问题，本发明采用的技术方案是：所述的球体直径测量仪，包括基座、若干测砧和定位件，各测砧高度互不相同，测砧能通过紧固装置紧固于基座上，被测球体能通过定位件置于测砧上；在基座上设置有支撑部，在支撑部上端设置有向一侧伸展的伸展臂，该伸展臂延伸至测砧的上方，伸展臂与支撑部构成L形形状的支撑架；在伸展臂上设置有上下贯通的贯通孔，限位套固定设置在贯通孔内，过渡平面测头设置在限位套内且其下端伸出限位套外，过渡平面测头能在限位套中上下移动，在过渡平面测头与限位套之间设置有限制过渡平面测头上下移动距离的限位装置，当被测球体通过定位件置于测砧上时，过渡平面测头下端能抵住被测球体并指向球心；千分表通过安装座安装在伸展臂上，千分表下端的测头伸入贯通孔后抵压在过渡平面测头上端；在贯通孔内设置有复位装置，上移的过渡平面测头能在复位装置的作用下向下移动至限位装置限定的下限位置；在支撑架上还设置有将过渡平面测头向上提起的提起装置。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，所述的定位件为定位套，定位套套设在测砧上，在定位套上端还设置有贯通的定位孔，被测球体能被放置并定位于定位孔内。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，在基座上设置有第一连接孔，所述的紧固装置包括：带第二连接孔的测砧紧定块和螺栓，在测砧底部设置有内螺纹孔，螺栓穿过测砧紧定块上的第二连接孔和基座上的第一连接孔后与测砧底部的内螺纹孔旋紧固定。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，测砧底部为能嵌入到第一连接孔的导向轴，内螺纹孔位于导向轴底部；导向轴嵌入第一连接孔后，螺栓穿过测砧紧定块上的第二连接孔和基座上的第一连接孔后与导向轴底部的内螺纹孔旋紧固定。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，所述的限位装置的结构为：在过渡平面测头的侧壁设置有向内凹进的竖向设置的长形槽，锁紧螺钉穿过限位套侧壁的第一通孔后伸入长形槽内；当锁紧螺钉与长形槽的上端面接触时，过渡平面测头位于限位装置限定的下限位置；当锁紧螺钉与长形槽的下端面接触时，过渡平面测头位于限位装置限定的上限位置。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，所述的复位装置为：在过渡平面测头侧壁设置有向外凸出的凸环，在过渡平面测头的凸环和安装座之间套设有回位压簧，回位压簧的两端分别抵靠在凸环和安装座上，在回位压簧的作用下过渡平面测头移动至限位装置限定的下限位置。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，在限位套内孔上段设置有供凸环上下运动的搁置孔，搁置孔孔径大于过渡平面测头的凸环直径，搁置孔与内孔之间形成搁置面，当过渡平面测头在回位压簧的作用下向下运动至限位装置限定的下限位置时凸环能搁置在搁置面上。

进一步地，前述的球体直径测量仪，其中，所述的提起装置的结构为：固定块设置在伸展臂上，手柄横向铰接于固定块上且手柄能相对铰接点上下摆动，在过渡平面测头下部设置有左右贯通的横向通孔，手柄的右端穿过限位套侧壁的第二通孔后伸入至横向通孔内；向下按压手柄左端能使过渡平面测头向上提起。