[发明专利]基于双波长斐索干涉仪的光学非均匀性测量装置及方法有效
| 申请号： | 201510209977.9 | 申请日： | 2015-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN106092514B | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 高志山;王凯亮;成金龙;王伟;王帅;袁群;杨忠明;朱丹;窦建泰;叶井飞 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 波长 干涉仪 光学 均匀 测量 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
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