[发明专利]一种Ge/SiSACM结构雪崩光电二极管的等效电路模型建立方法有效
| 申请号: | 201510204629.2 | 申请日: | 2015-04-27 |
| 公开(公告)号: | CN104794294B | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
| 发明(设计)人: | 王巍;颜琳淑;胡洁 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 | 代理人: | 廖曦 |
| 地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 ge si sacm 结构 雪崩 光电二极管 等效电路 模型 建立 方法 | ||
1.一种Ge/Si SACM结构雪崩光电二极管的等效电路模型建立方法,其特征在于:在该方法中,从APD速率方程、噪声电流、暗电流和寄生参量四部分来建立APD的等效电路模型,包括以下步骤:1)将物理模型分解为多个部分,根据每一层结构构造载流子输运方程;2)构造对应于每一部分的子电路模块;3)互联这些子电路模块,建立等效电路模型;
所述APD速率方程表示为:
p+region:
n+region:
A region:
C region:
M1 region:
M2 region:
以上方程式中Ian,Icn,Inm1和Ipc,Imp1,Imp2分别是其中一层的电子和空穴流到相邻层的电子和空穴,Gnp,Gpa,Gna,Gpc,Gnc,Gpm1,Gnm1,Gpm2,Gnm2,Gpn分别表示在p+、n+、A、C、M层的光产生率;np,na,nc,nm1,nm2和pn,pa,pc,pm1,pm2分别为p+、n+、A、C、M层总电子数和总空穴数,τnrp、τprn分别表示p+区和n+区电子和空穴的寿命,τnra,τnrc,τnrm和τpra,τprc,τprm是电子和空穴的复合率τnta,τntc,τntm1,τntm2和τpta,τptc,τptm1,τptm2分别是A、C、M层电子和空穴渡越时间,υn,υp是电子和空穴的漂移速度;α,β是电子和空穴的碰撞离化率;
所述噪声电流具体为:
k表示玻尔兹曼常数,Req是等效电阻,B表示带宽;
所述暗电流具体为:
式中
其中wm为C层的宽度,X为常数由器件每层的掺杂浓度和材料决定,Cn0为常数,Rd是依赖漂移区宽度的寄生漏电阻,mc是电子的有效质量;
所述的等效电路模型的输出电流为:
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