[发明专利]一种Ge/SiSACM结构雪崩光电二极管的等效电路模型建立方法有效

专利信息
申请号: 201510204629.2 申请日: 2015-04-27
公开(公告)号: CN104794294B 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 王巍;颜琳淑;胡洁 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 代理人: 廖曦
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 ge si sacm 结构 雪崩 光电二极管 等效电路 模型 建立 方法
【权利要求书】:

1.一种Ge/Si SACM结构雪崩光电二极管的等效电路模型建立方法,其特征在于:在该方法中,从APD速率方程、噪声电流、暗电流和寄生参量四部分来建立APD的等效电路模型,包括以下步骤:1)将物理模型分解为多个部分,根据每一层结构构造载流子输运方程;2)构造对应于每一部分的子电路模块;3)互联这些子电路模块,建立等效电路模型;

所述APD速率方程表示为:

p+region:

dnpdt=Gnp-npτnrp-Inq]]>

n+region:

dpndt=Gpn-pnτprn-Ipq]]>

A region:

dpadt=Gpa-paτpra-paτpta-Ipcq]]>

dnadt=Gna-naτnra-naτnta-Inq]]>

C region:

dpcdt=Gpc+αcυncnc+βcυpcpc-pcτprc-pcτptc+Imp1q]]>

dncdt=Gnc+αcυncnc+βcυpcpc-ncτnrc-ncτntc+Ianq]]>

M1 region:

dpm1dt=Gpm1+αm1υnm1nm1+βm1υpm1pm1-pm1τprm-pm1τptm1+Imp2q]]>

dnm1dt=Gnm1+αm1υnm1nm1+βm1υpm1pm1-nm1τnrm-nm1τntm1+Icnq]]>

M2 region:

dpm2dt=Gpm2+αm2υnm2nm2+βm2υpm2pm2-pm2τprm-pm2τptm2+Ipq]]>

dnm2dt=Gnm2+αm2υnm2nm2+βm2υpm2pm2-nm2τnrm-nm2τntm2+Inm1q]]>

以上方程式中Ian,Icn,Inm1和Ipc,Imp1,Imp2分别是其中一层的电子和空穴流到相邻层的电子和空穴,Gnp,Gpa,Gna,Gpc,Gnc,Gpm1,Gnm1,Gpm2,Gnm2,Gpn分别表示在p+、n+、A、C、M层的光产生率;np,na,nc,nm1,nm2和pn,pa,pc,pm1,pm2分别为p+、n+、A、C、M层总电子数和总空穴数,τnrp、τprn分别表示p+区和n+区电子和空穴的寿命,τnra,τnrc,τnrm和τpra,τprc,τprm是电子和空穴的复合率τnta,τntc,τntm1,τntm2和τpta,τptc,τptm1,τptm2分别是A、C、M层电子和空穴渡越时间,υn,υp是电子和空穴的漂移速度;α,β是电子和空穴的碰撞离化率;

所述噪声电流具体为:

Ith=4kTBReq]]>

k表示玻尔兹曼常数,Req是等效电阻,B表示带宽;

所述暗电流具体为:

Idark=Θ1AXVbias(XVbias+Vbi)Cn0exp(-Θ2wmXVbias+Vbi)+XVbiasRd]]>

式中

其中wm为C层的宽度,X为常数由器件每层的掺杂浓度和材料决定,Cn0为常数,Rd是依赖漂移区宽度的寄生漏电阻,mc是电子的有效质量;

所述的等效电路模型的输出电流为:

In=V1Rnd+βnPin+In0;Ip=V2Rpd+βpPin+Ip0.]]>

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