[发明专利]一种修复希捷硬盘磁头故障的方法

说明书

技术领域

本发明涉及信息安全技术领域，特别涉及一种修复希捷硬盘磁头故障的方法。

背景技术

硬盘是通过磁头的读写来存放数据的，由于硬盘使用时间过长和不特定因素的影响，如在硬盘工作过程中抖动硬盘都会使硬盘的磁头损伤，导致硬盘ATA状态一直长忙或者坏死，这时硬盘就没有办法读取到硬盘中的数据，并出现会无法寻道、敲盘、异响、甚至无法起转等现象。

目前，修复希捷硬盘磁头故障的方法主要是采用更换磁头的方式，但是更换磁头后容易出现磁头与盘体不匹配的情况，这时硬盘无法正常工作。

发明内容

本发明针对现有技术的缺陷，提出一种修复希捷硬盘磁头故障的方法，其特征在于包括以下步骤：

S1：选出正常硬盘中与故障盘Model号、SN号前三位、固件版本号都一致的盘则作为匹配盘；

S2：找到匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到磁头偏离率最接近于故障盘的匹配盘；

S3：重组并替换故障盘ROM中的SAP磁头参数。

作为优选，所述S2的详细步骤如下：

S201：通过指令使匹配盘和故障盘都进入T级模式，然后进入2级指令模式；

S202：获取匹配盘和故障盘的磁头偏离率；

S203：对比匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到最接近故障盘的匹配盘作为最终需要的匹配盘，淘汰其他匹配盘。

作为优选，所述S3的详细步骤如下：

S301：读取匹配盘和故障盘的ROM数据；

S302：找到ROM数据体内的SAP数据的存储位置；

S303：计算SAP数据体的大小，并提取；

S304：将SAP数据体的前后8个字节去掉；

S305：将SAP数据体分为5个数据段；

S306：将匹配盘的第二数据段和第四数据段写入故障盘SAP数据体的相应位置替换原有数据；

S307：将替换完成的新SAP数据体写入故障盘的ROM中替换原有的SAP数据体。

作为优选，所述S305中的数据体分段方式如下：

第一数据段为：“0~4B”；

第二数据段为：“4C~2CD”；

第三数据段为：“2CE~2FC”；

第四数据段为：“2FD~32C”；

第五数据段为：“32D~尾部”。

与现有技术相比本发明的优点在于：解决了硬盘更换磁头后无法适配的问题；通过两次筛选，快速且准确找到最接近故障盘的匹配盘，防止在适配过程中匹配盘数据不兼容的情况；能够找到并重组SAP数据，修复过程不会破坏硬盘存储的数据，修复硬盘成功率高并降低修复所花费的时间。

附图说明

图1为本发明实施例的主流程图；

图2为本发明步骤S2的详细流程图；

图3为本发明步骤S3的详细流程图。

具体实施方式

为了详细说明本发明的具体实施方式，下面结合附图说明：

如图1所示，一种修复希捷硬盘磁头故障的方法，其特征在于包括以下步骤：

S1：选出正常硬盘中与故障盘Model号、SN号前三位、固件版本号都一致的盘则作为匹配盘；

这里通过查看硬盘外标签model号必须一致。

通过查看硬盘外标签SN号前三位必须一致：SN第一位表示制造地点(W = 无锡, S = 苏州, Z = 泰国)；SN第二位表示盘片类型（盘片类型/密度（1 = 1TB/platter，2 = 500GB/platter））；SN第三位表示磁头个数（E = 4磁头，F = 6磁头，D = 2磁头）；

通过硬盘外标签固件版本号（FW）必须一致。

S2：找到匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到磁头偏离率最接近于故障盘的匹配盘；

S3：重组并替换故障盘ROM中的SAP磁头参数。

如图2所示，所述S2的详细步骤如下：

S201：通过指令使匹配盘和故障盘都进入T级模式，然后进入2级指令模式；

S202：获取匹配盘和故障盘的磁头偏离率；

S203：对比匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到最接近故障盘的匹配盘作为最终需要的匹配盘，淘汰其他匹配盘。

如图3所示，所述S3的详细步骤如下：

S301：读取匹配盘和故障盘的ROM数据；

需要说明的是，下面所提到的“XX XX XX”为可变值；