[发明专利]一种Spectralon漫反射板校正方法

权利要求书

1.一种Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)光源从不同天顶角照射Spectralon漫反射板，利用光谱仪从不同天顶角和方位角采集相应的反射光谱数据；

2)从所述反射光谱数据内截取有效波段范围内的光谱数据，并求平均值，剔除差异相对较大的光谱数据；

3)对剩余的光谱数据求残差平方和Rss，确定最稳定的探测器接受天顶角θ_r,degree的值，并建立任意探测器接受天顶角θ_r与θ_r,degree的关系表达式；

4)将关系表达式代入Spectralon漫反射板的BRDF表达式，完成Spectralon漫反射板校正。

2.如权利要求1所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，在步骤1)中，控制光源的方位角为0°，天顶角依次设置为0°、10°、30°和45°，利用探测器在光源各天顶角处进行逐一采集，天顶角从0°～70°每隔10°采集，方位角从0°～360°每隔10°采集。

3.如权利要求2所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，关闭光源，控制探测器再次以同等的天顶角和方位角采集相应的环境光谱数据，并将光源下采集的原始光谱数据与环境光谱数据做差值处理，得到步骤1)中的反射光谱数据。

4.如权利要求1所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，所述的有效波段范围为可见光和近红外光波段。

5.如权利要求1所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，在步骤2)中，根据探测器天顶角的采集间隔对光谱数据进行分组，计算每组光谱数据的平均值，并对光谱数据进行二次剔除处理。

6.如权利要求5所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，所述的二次剔除处理为：利用公式(1)对光谱数据进行初步剔除，剩余的光谱数据求平均值，再利用公式(2)对剩余的光谱数据进行再次剔除处理；

$|100\×\frac{L_{n1}(i,j)-M_{n1}(i,j)}{M_{n1}(i,j)}|\<25---\left(1\right)$

$|100\×\frac{L_{n2}(i,j)-M_{n2}(i,j)}{M_{n2}(i,j)}|\<15---\left(2\right)$

式中，L，M分别为各组内的原始光谱数据和对应的光谱数据平均值，n代表依据探测器天顶角所分组值，L_n1、M_n1分别为第一次各组内的原始光谱数据和光谱数据平均值矩阵，L_n2、M_n2分别为第二次各组内的原始光谱数据和光谱数据平均值矩阵，i，j分别为方位角数值和波长。