[发明专利]内建自测试电路有效
| 申请号： | 201510189284.8 | 申请日： | 2015-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN104751896B | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 李鸣 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 电路 | ||
1.一种内建自测试电路，用于对待测存储器进行测试，其特征在于，所述电路包括：命令解析电路、数据产生电路及数字模拟输入输出单元，所述命令解析电路一输入端自所述数字模拟输入输出单元输入测试输入数据，第一引脚接测试时钟输入至所述命令解析电路的另一输入端及所述数据产生电路中，所述数据产生电路输出测试输出数据、方向控制信号和模数转换数据至所述数字模拟输入输出单元，所述方向控制信号对输入输出进行方向选择，所述模数转换数据对所述数字模拟输入输出单元的模数转换进行选择，所述数字模拟输入输出单元与所述待测存储器相连，并通过第二引脚进行数字或模拟数据的输入输出。
2.如权利要求1所述的内建自测试电路，其特征在于，所述命令解析电路产生并输出测试触发信号至所述数据产生电路。
3.如权利要求2所述的内建自测试电路，其特征在于，所述数据产生电路根据所述测试触发信号产生所述模数转换数据。
4.如权利要求3所述的内建自测试电路，其特征在于，所述模数转换数据在预定周期时钟信号后恢复至初始状态。
5.如权利要求1所述的内建自测试电路，其特征在于，所述数字模拟输入输出单元为双向的输入输出单元。
6.如权利要求1所述的内建自测试电路，其特征在于，所述数据产生电路与所述待测存储器相连，用于测试传输数据。
7.如权利要求6所述的内建自测试电路，其特征在于，测试复位信号由所述待测存储器内部产生并输至所述数据产生电路以便进行复位操作。
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