[发明专利]一种基于盐雾环境试验的印制电路板使用寿命评估方法

权利要求书

1.一种基于盐雾试验的印制电路板使用寿命评估方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

A：确定盐雾试验样本数n；

B：对盐雾试验样本数n进行编号，并制定试验条件与合格判据；

C：随机选取部分编号样本进行三防漆的预处理，剩余部分编号样本不进行任何处理，然后对全部样本进行试验；

D：取出样本进行初步的腐蚀形貌判断，以判定样品是否已直接失效，清洗样品表面至正常水平之后测定样本的电性能；选取Arrhenius模型分别通过基于加速寿命试验与基于样本性能退化的估计方法对印制电路板的使用寿命进行估计。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述加速寿命试验具体包括以下步骤：

D1：确定试验环境因子得到加速系数η；所述环境因子包括：温度因子a，盐溶液浓度因子b，盐雾沉降量因子c；根据以下公式计算所述加速系数η；

η＝a·b·c；

D2：根据现有研究中盐雾试验的加速变量对试验速率影响的成果，以及Arrhenius模型对温度因子a进行估算；根据实验数据对盐溶液浓度因子b以及盐雾沉降量因子c进行拟合，得到盐溶液浓度因子b以及盐雾沉降量因子c加速试验模型，根据得到的加速试验模型计算得到盐溶液浓度因子b以及盐雾沉降量因子c的值；根据得到的温度因子a，盐溶液浓度因子b，盐雾沉降量因子c计算加速系数η；

D3：根据步骤D2获得的加速系数η，求得自然使用环境下的贮存时间T，T＝η·T′；

其中，T′表示试验周期。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过基于电路板性能退化的估计方法对印制电路板的使用寿命进行估计，具体包括：通过对印制电路板的电阻进行测量，根据测量得到的样本的不同端口电阻变化，对比分析n个样本的电阻变化率，求出变化率平均值并根据电子产品退化量失效阈值z、自然使用环境下的贮存时间T₀与变化率平均值S，求出实际服役中达到失效退化的使用年限T₁，

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤B制定的试验条件如下：

所述步骤B制定的试验条件如下：

温度：35℃±2℃；

盐溶液浓度：5％±1％；

PH值：6.5-7.2；

盐雾沉降率：1.3ml/(80cm²·h)；

试验周期T′：96小时，其中一个循环为喷雾24小时/停喷24小时，共计两个循环。