[发明专利]基于张量MPCA的极化SAR图像分类方法有效
| 申请号: | 201510164002.9 | 申请日: | 2015-04-08 |
| 公开(公告)号: | CN104751183B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
| 发明(设计)人: | 缑水平;焦李成;李鹏程;马文萍;马晶晶;侯彪;屈嵘 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06K9/66 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心61205 | 代理人: | 田文英,王品华 |
| 地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 张量 mpca 极化 sar 图像 分类 方法 | ||
技术领域
本发明属于图像处理技术领域,更进一步涉及目标识别技术领域中的一种基于张量MPCA的极化合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)图像分类方法。本发明可用于对雷达图像中不同目标区域进行分类。
背景技术
雷达是一种可以实现全天候工作的主动探测系统,它可以穿透一定的地表,并且可以改变发射波的频率、强度。极化SAR是用来测量回波信号的新型雷达,可以记录不同极化状态组合回波的相位差信息,所以能够得到更丰富的目标信息,在农业、林业、军事、地质学、水文学和海洋等方面具有广泛的研究和应用价值,如地物种类的识别、灾害监测和评估、农作物成长监视等。现有的极化SAR图像分类方法大致可以分为基于散射特性的方法和基于统计特性方法,如基于目标分解的分类方法和基于散射熵、散射角的分类方法等。
电子科技大学在其申请的专利“一种基于Cloude分解的极化SAR图像分类方法”(专利申请号:201410341457.9,公开号:104123563A)中提出了一种利用Cloud分解的SAR图像分类的方法。该方法首先对图像中的每个像素点进行Cloude分解,得到散射熵H和散射角α;计算散射熵H和散射角α的统计直方图,并对直方图进行分割,得到分割阈值;将得到的分割阈值作为散射熵H和散射角α特征构成的二维平面的划分点,对极化SAR图像进行初始划分为m类;将得到的初始分类的类中心和类别数输入Wishart分类器,得到极化SAR图像的分类结果。该方法比原始的H/α法硬性划分要更为合理,能根据图像本身的特点自适应的调节。但是,该方法的不足之处是,需要将原始数据转换成矢量的形式,破坏了原始数据中的空间结构信息,没有充分利用图像信息,使得该方法需要较多的训练样本来训练分类器。
武汉大学在其申请的专利“一种弱监督的SAR图像分类方法”(专利申请号:201010221605.5,公开号:101894275A)中提出了一种弱监督的SAR图像分类方法。该方法先将SAR图像分割成多个子图像,然后将各子图像格网划分成互不重叠的矩形区域,然后将每个矩形区域采用一个建立在多尺度信息上的局部四叉树描述,然后建立分级的马尔科夫主题模型,通过该模型对图像进行分类。该方法能同时利用图像的数据信息,图像与图像之间的相关性息和图像在多个尺度上的相关信息,因而很好的克服了SAR图像分类中的一些局部不确定性问题。但是,该方法仍然存在的不足之处是,该方法的抗噪性不强,在噪声较大的情况下分类器性能下降比较明显。
发明内容
本发明的目的在于解决上述现有技术的不足,提出了一种基于张量MPCA的极化SAR图像分类方法,相比现有方法将原始数据转换成向量形式,本发明将原始数据转换成张量形式,保留了原始数据三个通道之间的空间结构信息,充分利用了极化SAR图像三个通道的数据,在提高抗噪声性能的同时,降低了对训练样本数目的要求提高了分类的准确度。
本发明实现上述目的的思路是:先将极化SAR图像原始数据转换成张量形式,然后利用多线性主成分张量分析MPCA方法对图像特征进行提取,再训练支撑矢量机SVM分类器,利用训练好的支撑矢量机SVM对待分类数据进行分类,得到分类结果。
本发明的步骤包括如下:
(1)输入数据:
输入极化合成孔径雷达图像SAR三个通道的数据;
(2)数据转换:
(2a)对每个通道的像素取3×3的邻域窗口,得到每个像素对应的特征矩阵;
(2b)将三个通道数据中对应像素的特征矩阵构成3×3×3的三阶张量,作为每个像素的特征张量;
(3)提取图像特征:
(3a)根据极化合成孔径雷达图像SAR图像的实际地物分布,对每一类数据随机选取训练样本;
(3b)利用多线性主成分张量分析MPCA方法,对每一类数据的训练样本进行特征提取,得到每一类数据训练样本的特征向量;
所述的多线性主成分张量分析MPCA方法的具体步骤如下:
第一步,按照下式,对每一类数据的训练样本进行中心化处理:
其中,表示中心化处理后每个像素的特征张量,表示每一类数据的训练样本中每个像素的特征张量,m表示每一类数据的训练样本像素点的序号,m的取值范围为1、2、…M;M表示所选取每一类数据的训练样本的数量Σ表示求和操作;
第二步,按照下式,计算所有像素特征张量的协方差矩阵:
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