[发明专利]基于频率扫描天线的目标检测方法有效
申请号: | 201510158700.8 | 申请日: | 2015-04-03 |
公开(公告)号: | CN104777467B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 李超;李世超;张晓娟;方广有 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 频率 扫描 天线 目标 检测 方法 | ||
1.一种基于频率扫描天线的目标检测方法,包括以下步骤:
步骤S1:建立回波信号模型:将回波信号表示为X=AS+U,
其中X=[x(f1),x(f2),x(f3)...,x(fN)]T,是N*1维回波信号向量,该向量中的每个元素为接收到的不同频率的信号,x(fn)简记为xn,n=1,2,...,N;
A=[α(f,β1) α(f,β2) ... α(f,βM)],为N*M维阵列导向矩阵,其中A的每一列为一个阵列导向矢量;
α(f,βm)=[a(f1,βm) a(f2,βm) ... a(fN,βm)]T,m=1,2...,M,其中a(fn,βm)为频率fn下βm方向的双站方向性系数;
S=[s(β1) s(β2) ... s(βM)]T,为βm方向目标的后向散射系数,s(βm)简记为sm,m=1,2,...,M;
U=[u(f1) u(f2) ... u(fN)]T为不同频率的噪声,x(fn)简记为xn,n=1,2,...,N;
步骤S2:对原始回波信号进行子空间平均处理,获得信号矩阵:
步骤S3:对步骤S2中获得的信号矩阵求取自相关矩阵:
步骤S4:对步骤S3中获得的信号自相关矩阵进行特征值分解,得到特征值和特征向量空间,并将所述特征向量空间分成信号子空间和噪声子空间;
步骤S5:将步骤S4中获得的所述信号子空间和噪声子空间正交,并构造FS-MUSIC伪谱:
步骤S6:对步骤S5所得伪谱进行谱峰搜索,找出多个极大值点对应的角度就是目标回波方向。
2.根据权利要求1所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S1中的所述双站方向性系数a(fn,βm)包含幅度或相位信息。
3.根据权利要求1所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S2包括:
对原始回波信号X进行子空间平均处理:X=[x{1} x{2} ... x{P}],
其中:
x{1}=[x1,x2,...,xQ]T,
x{2}=[x2,x3,...,xQ+1]T,
......
x{P}=[xP,xP+1,...,xN]T,P为子空间个数,其值大于目标个数;Q为每个子空间元素个数,且P+Q+1=M。
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