[发明专利]基于频率扫描天线的目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201510158700.8 申请日: 2015-04-03
公开(公告)号: CN104777467B 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 李超;李世超;张晓娟;方广有 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 频率 扫描 天线 目标 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于频率扫描天线的目标检测方法,包括以下步骤:

步骤S1:建立回波信号模型:将回波信号表示为X=AS+U,

其中X=[x(f1),x(f2),x(f3)...,x(fN)]T,是N*1维回波信号向量,该向量中的每个元素为接收到的不同频率的信号,x(fn)简记为xn,n=1,2,...,N;

A=[α(f,β1) α(f,β2) ... α(f,βM)],为N*M维阵列导向矩阵,其中A的每一列为一个阵列导向矢量;

α(f,βm)=[a(f1,βm) a(f2,βm) ... a(fN,βm)]T,m=1,2...,M,其中a(fn,βm)为频率fn下βm方向的双站方向性系数;

S=[s(β1) s(β2) ... s(βM)]T,为βm方向目标的后向散射系数,s(βm)简记为sm,m=1,2,...,M;

U=[u(f1) u(f2) ... u(fN)]T为不同频率的噪声,x(fn)简记为xn,n=1,2,...,N;

步骤S2:对原始回波信号进行子空间平均处理,获得信号矩阵:

步骤S3:对步骤S2中获得的信号矩阵求取自相关矩阵:

步骤S4:对步骤S3中获得的信号自相关矩阵进行特征值分解,得到特征值和特征向量空间,并将所述特征向量空间分成信号子空间和噪声子空间;

步骤S5:将步骤S4中获得的所述信号子空间和噪声子空间正交,并构造FS-MUSIC伪谱:

步骤S6:对步骤S5所得伪谱进行谱峰搜索,找出多个极大值点对应的角度就是目标回波方向。

2.根据权利要求1所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S1中的所述双站方向性系数a(fn,βm)包含幅度或相位信息。

3.根据权利要求1所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S2包括:

对原始回波信号X进行子空间平均处理:X=[x{1} x{2} ... x{P}],

其中:

x{1}=[x1,x2,...,xQ]T

x{2}=[x2,x3,...,xQ+1]T

......

x{P}=[xP,xP+1,...,xN]T,P为子空间个数,其值大于目标个数;Q为每个子空间元素个数,且P+Q+1=M。

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