[发明专利]阵列基板、触控显示面板、触控显示装置及检测方法有效
| 申请号: | 201510153210.9 | 申请日: | 2015-04-01 |
| 公开(公告)号: | CN104699322B | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
| 发明(设计)人: | 卢峰;姚绮君 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司;天马微电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 王宝筠 |
| 地址: | 201201 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 阵列 显示 面板 显示装置 检测 方法 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括:
公共电极层,所述公共电极层被分割为多个呈阵列分布的触控电极;以及
多个控制电路,所述控制电路与所述触控电极一一对应连接,所述控制电路包括:
第一输入端,用于接入触控驱动信号或触控检测信号;
第二输入端,用于接入所述触控驱动信号或所述触控检测信号;
第一控制端,用于控制所述控制电路接入所述第二输入端接入的信号;
第二控制端,用于控制所述控制电路接入所述第一输入端接入的信号;
多条第一引线,每一第一引线与同一行的所述触控电极的控制电路的第一控制端和第一输入端电连接;以及
多条第二引线,每一第二引线与同一列的所述触控电极的控制电路的第二控制端和第二输入端电连接。
2.根据权利要求1所述的基板,其特征在于,所述控制电路包括第一晶体管和第二晶体管,所述第一晶体管和第二晶体管的第二极与所述触控电极电连接,所述第一晶体管的栅极为所述控制电路的第一控制端,所述第二晶体管的第一极为所述控制电路的第一输入端,所述第二晶体管的栅极为所述控制电路的第二控制端,所述第一晶体管的第一极为所述控制电路的第二输入端。
3.根据权利要求2所述的基板,其特征在于,所述第一晶体管和第二晶体管为NMOS管或PMOS管。
4.根据权利要求3所述的基板,其特征在于,当所述触控电极包括多个触控子电极时,所述触控子电极的子控制电路以并联的方式连接。
5.根据权利要求4所述的基板,所述阵列基板还包括多条栅极线和多条数据线以及由所述栅极线和数据线围成的像素单元,其特征在于,所述第一引线的延伸方向平行于所述栅极线的延伸方向,所述第二引线的延伸方向平行于所述数据线的延伸方向。
6.根据权利要求1所述的基板,其特征在于,所述控制电路通过所述第一输入端接入所述触控驱动信号,通过所述第一输入端接入所述触控检测信号;
或者,所述控制电路通过所述第一输入端接入所述触控驱动信号,通过所述第二输入端接入所述触控检测信号;
或者,所述控制电路通过所述第二输入端接入所述触控驱动信号,通过所述第一输入端接入所述触控检测信号;
或者,所述控制电路通过所述第二输入端接入所述触控驱动信号,通过所述第二输入端接入所述触控检测信号。
7.一种触控显示面板,其特征在于,包括权利要求1-6任一项所述的阵列基板。
8.根据权利要求7所述的面板,所述触控显示面板还包括对置基板,所述对置基板包括黑矩阵,其特征在于,在垂直于所述阵列基板的方向上,所述黑矩阵的投影覆盖所述控制电路。
9.一种触控显示装置,其特征在于,包括权利要求8所述的触控显示面板。
10.一种检测方法,应用于权利要求1-6任一项所述的阵列基板,其特征在于,包括:
对所述触控电极进行逐行或逐列的触控检测;
判断检测结果是否出现一个参考触控点;
如果是,直接输出所述触控点的位置信息;
如果否,对每一参考触控点对应的触控电极及其周边的触控电极单独进行检测,以确定触控点并输出所述触控点的位置信息。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,在对所述触控电极进行逐行或逐列的触控检测之前,还包括:
依次向所述第一引线输入所述第一控制信号和所述触控驱动信号,同时向所述第二引线输入所述第二控制信号,以通过所述第一引线逐行对所述触控电极进行触控驱动;
或者,依次向所述第二引线输入所述第一控制信号和所述触控驱动信号,同时向所述第一引线输入所述第二控制信号,以通过所述第二引线逐列对所述触控电极进行触控驱动。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述对所述触控电极进行逐行或逐列的触控检测的过程包括:
依次向所述第一引线输入第一控制信号和触控检测信号,同时向所述第二引线输入第二控制信号,以通过所述第一引线逐行对所述触控电极进行触控检测;
或者,依次向所述第二引线输入第一控制信号和触控检测信号,同时向所述第一引线输入第二控制信号,以通过所述第二引线逐列对所述触控电极进行触控检测。
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