[发明专利]电子检测装置有效

专利信息
申请号: 201510141895.5 申请日: 2015-03-27
公开(公告)号: CN104730229A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 岑赞询;胡海升;罗宏;王继华 申请(专利权)人: 广州万孚生物技术股份有限公司
主分类号: G01N33/50 分类号: G01N33/50;G01N21/75
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李海恬;万志香
地址: 510663 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及生化检测领域,尤其是涉及一种用于对化验检测的测试条进行读数的电子检测装置。

背景技术

目前已有一些针对生化检测试纸的电子检测装置,如申请号为ZL201120283208.0的专利公开的分析读数装置。该分析读数装置用于对化验检测的测试条进行读数和分析。该测试条上设有测试区和空白区。该分析读数装置包括至少两个光源和至少一个光检测器。当只有两个光源和一个光检测器时,光源与光检测器设在托板的同一侧,且两个光源并列设置并与光检测器相对设置。两个光源与光检测器之间通过一个T型隔板隔开。该T型隔板的在T头位置的横板比T型隔板的竖版略低,从而与测试条之间形成间隙。两个光源分别单独照射在测试条的测试区和空白区,两个光源先后发出光线,照射在测试区和空白区后反射,反射的光线通过T型隔板与测试条之间的间隙被光检测器接收。

这种T形隔板的设置,在一定程度上可防止不同光源间的干扰,然而,由于光检测器与光源之间的隔板存在空隙,并且测试条的测试区和空白区距离相当近,当其中一个光源发光照射在测试条上时,该光线除了照射在特定区域之外,还可能通过隔板空隙,散射到特定区域之外的测试条区域。因此,光检测器接收到反射回来的光线将不仅是特定区域反射回来的光,而是同时包括光源散射到的区域反射回来的光,这将导致检测结果不够准确。例如,当光源照亮测试区时,光线在照射测试区的同时散射到旁边的空白区,被照射到的测试区和空白区反射的光线同时通过隔板缝隙被光检测器接收到,而光检测器本来应该接收并检测的是测试区的光信号,由此导致光线干扰,影响检测的准确性。

发明内容

基于此,有必要提供一种能够防止光干扰,从而提高检测结果准确性的电子检测装置。

一种电子检测装置,包括支架及设在所述支架上的测试条和光电检测系统;所述测试条上设有检测区和空白区;所述光电检测系统包括:

至少两个光源,与所述测试区和所述空白区的位置对应,且发出的光与所述测试区和所述空白区相应;

至少一个光检测器,接收来自所述测试区和所述空白区的反射光线,并转换成电信号;及

处理器,接收所述电信号并进行处理;

所述支架上设有检测窗口;所述光源与所述光检测器设在所述检测窗口的同一侧,所述测试条位于所述检测窗口的另一侧;所述检测窗口中设有交叉连接的第一分隔件和第二分隔件;所述第一分隔件包括:

光源分隔件,对应所述光源所在的位置设置,与所述光源在所述支架上的安装平面以及所述测试条的检测区与空白区之间的区域无缝抵接,以将所述至少两个光源隔开,并将所述检测区与所述空白区隔开;及

防散射分隔件,对应所述光检测器所在的位置设置,与所述测试条的检测区及空白区之间的区域无缝抵接,以将所述检测区与所述空白区隔开,可阻挡特定区域光源发出的光散射到相邻区域,且所述防散射分隔件与所述光检测器之间设有第一透光间隙,以确保光检测器正常接收光信号;

所述第二分隔件与所述测试条之间设有第二透光间隙,并与所述安装平面无缝抵接将所述光源与所述光检测器隔开,防止所述光源发出的光线直接进入所述光检测器,确保光源发出的光线照射到测试条特定区域后经该第二透光间隙被光检测器接收到,从而实现检测。

在其中一个实施例中,所述光源分隔件及所述防散射分隔件为长方体条状结构,所述第二分隔件为长方体板状结构。

在其中一个实施例中,所述光源分隔件的宽度小于所述防散射分隔件的宽度。

在其中一个实施例中,所述光源分隔件的一端与所述防散射分隔件的一端连接;所述第二分隔件与所述光源分隔件垂直连接;所述光源分隔件的另一端、所述防散射分隔件的另一端及所述第二分隔件的两端分别与所述检测窗口的内壁连接,形成十字形结构。

在其中一个实施例中,所述第二分隔件与所述光源分隔件在靠近所述防散射分隔件端部的位置垂直连接。

在其中一个实施例中,所述支架包括基板和托架;所述基板设在所述托架的一侧,所述测试条位于所述托架的另一侧;所述光源、所述光检测器及所述处理器设在所述基板上;所述检测窗口开设在所述托架上。

在其中一个实施例中,所述第一分隔件、所述第二分隔件及所述托架为一体成型结构。

在其中一个实施例中,所述测试条的背侧设有遮光胶布。

在其中一个实施例中,所述电子检测装置还包括由上壳体、下壳体和前盖配合构成的外壳,所述测试条、所述光电检测系统及所述支架位于所述外壳内。

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