[发明专利]一种插头综合测试仪的校准方法有效
| 申请号: | 201510136735.1 | 申请日: | 2015-03-26 |
| 公开(公告)号: | CN104749543B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
| 发明(设计)人: | 肖建红 | 申请(专利权)人: | 苏州朗博校准检测有限公司 |
| 主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 插头 综合 测试仪 校准 方法 | ||
本发明公开了一种插头综合测试仪的校准方法,包括以下步骤:a、将插头综合测试仪的测试插头类型选择为三芯;b、分别将E、L、N触碰点击板,此时相应的指示灯亮;c、绝缘电阻的校准;d、绝缘电阻测试电压的校准;e、内高压的校准;f、内高压漏电电流的校准;g、外高压的校准;h、外高压漏电电流的校准;i、外高压和内高压定时功能的校准。该校准方法可进行更全面的校准,提高工作效率,且操作简单方便。
技术领域
本发明涉及校准方法应用领域,特别涉及一种插头综合测试仪的校准方法。
背景技术
目前,对于插头综合测试仪的校准主要参考的技术规范有JJG795-2004耐电压测试仪检定规程、JJG1005-2005电子式绝缘电阻表检定规程,但这两个规程均不是专门针对插头综合测试仪的校准技术规范,很多插头综合测试仪实际校准过程中的特殊要求或问题在两个规程中并不能完全体现,如内高压、外高压、内压漏电电流、外压漏电电流、绝缘电阻、绝缘电阻测试电压、定时功能检查等校准项目均无法通过上述两个规程完全的实现,给企业带来了很大的不便。
发明内容
为解决上述背景技术中存在的问题,本发明的目的在于提供一种插头综合测试仪的校准方法,以达到全面校准、提高工作效率,且操作简单方便的目的。
为达到上述目的,本发明的技术方案如下:
一种插头综合测试仪的校准方法,包括以下步骤:
a、将插头综合测试仪的测试插头类型选择为三芯,将其插座更换为三孔的插座,用三条耐高压的绝缘性良好的导线分别连接插座上的E、L、N三孔;
b、启动测试,按照上述面板标识的顺序,分别将E、L、N触碰点击板,此时相应的指示灯亮,而后,插头综合测试仪按顺序进行绝缘、内高压、外高压测试,正常状态其相应的指示灯按顺序点亮,观察其内高压和外高压的先后顺序;
c、绝缘电阻的校准,插头综合测试仪与高阻箱相连接,将插头综合测试仪的绝缘电阻设置为某一档位,记为xMΩ,启动测试,将内高压和外高压的输出电压设为零,将高阻箱电阻设置为xMΩ附近值,分别多次重复触碰E、L、N的点击板,调整高阻箱的电阻值,记录插头综合测试仪指示的绝缘电阻项目由不合格到合格时的转换点,并校准插头综合测试仪绝缘电阻的其他档位;
d、绝缘电阻测试电压的校准,插头综合测试仪与数字万用表(DCV功能)或数字高压表(DCV功能)相连接,将插头综合测试仪的绝缘电阻设置到最小档位,启动测试,分别触碰E、L、N的点击板,观察并记录数字万用表或数字高压表的读数,正常状态E为高压的低端;
e、内高压的校准,插头综合测试仪与数字高压表(ACV功能)相连接,如插头综合测试仪先进行外高压测试,需先连接L端,待外高压通过后,再接上E端,进行内高压测试,将内高压测试时间设置在10s以上,启动测试,将内高压设置成某一校准点xkV,外高压设置成零,分别触碰E、L、N的点击板,观察并记录数字高压表的读数,重复触碰E、L、N的点击板校准内高压其他校准点;
f、内高压漏电电流的校准,插头综合测试仪与高阻箱相连接,并将数字万用表(ACA)串联到E端,如插头综合测试仪先进行外高压测试,需先连接L端,待外高压通过后,再接上E端,进行内高压测试,将内高压测试时间设置在10s以上,将内高压泄漏电流设置在某一档位,高阻箱的阻值设置在500/泄漏电流,启动测试,将内高压设置成500V,外高压设置成零,分别多次重复触碰E、L、N的点击板,调整高阻箱的电阻值,记录插头综合测试仪指示的内高压项目由不合格到合格时的电流转换点,观察并记录数字万用表的电流读数,并校准内高压漏电电流其他档位;
g、外高压的校准,插头综合测试仪与高压表相连接,将外高压测试时间设置在10s以上,启动测试,将外高压设置为某一校准点xkV,内高压设置成零,分别多次重复触碰E、L、N的点击板,观察并记录高压表的读数,并校准外高压其他校准点;
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