[发明专利]高压MOSFET电流采样电路有效
| 申请号: | 201510135784.3 | 申请日: | 2015-03-26 |
| 公开(公告)号: | CN104764924B | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
| 发明(设计)人: | 刘俊龙;刘肖俊;王莉;田欢;裘伟光 | 申请(专利权)人: | 深圳市英特源电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司: | 广东广和律师事务所44298 | 代理人: | 王少强 |
| 地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高压 mosfet 电流 采样 电路 | ||
技术领域
本发明涉及电源芯片管理技术,尤其涉及到一种高压MOSFET电流采样电路。
背景技术
随着大功率电源的需求越来越多,传统的小功率的电源管理芯片已经不能满足市场要求。以BUCK转换器在汽车电子上的应用为例,以前大多都是5V/1A、5V/2A的小功率输出,而现在逐步地发展到5V/4A、5V/5A的大功率输出。同时,输入电压的范围也在逐步变大,从12V变化到了24V、48V。为了满足大范围的输入电压和大功率输出的要求,把控制器和功率器件集成在一个芯片上面的做法已经不能适应,为了解决这一问题,人们将高压功率器件外置或者将控制器和高压功率器件分别封装,但采用这种方式需要增加额外的采样器件,导致功耗的增加,封装也容易受到限制,见图1。
为了解决外置或分别封装所带来的功耗问题,人们通过加入箝位电压的方式对电路进行再度改进,不需要取样元件,直接取样于开关器件的两端,但这一改进的缺陷是,不同的输入电压需要不同的箝位电压值,导致在不同的输入电压下,需要不同的电源管理芯片来适应它,可知,其使用具有一定的局限性,见图2。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种高压MOSFET电流采样电路,以适应高电压输入、大功率输出的电源管理要求,同时解决传统取样电路的功率损耗问题,及对不同输入电压的适应性差的问题。
为了实现上述目的,本发明提供一种高压MOSFET电流采样电路,用于检测流经该MOSFET开关器件的电流,该电流采样电路包括:
开关控制模块,电连接于所述MOSFET开关器件的第一端和第二端,根据第一时序信号开启或关闭,用于控制所述电流采样电路的取样时间点;
电压取样模块,电连接于所述开关控制模块,包括多个MOS管,用于获取所述MOS管的漏极和源极之间的取样电压;
电压/电流转换模块,电连接于所述电压取样模块,用于将所述电压取样模块的所述取样电压转换为取样电流;及
电压输出模块,电连接于所述电压/电流转换模块,用于根据所述电压/电流转换模块的所述取样电流输出相应的电压。
本发明直接取样高压功率MOSFET开关器件的漏极和源极之间的电压差,以判断流经该高压功率MOSFET开关器件的电流,避免了传统技术中增设取样元件(如电阻)而导致功率损耗的问题;同时,通过时序信号控制开关控制模块的开启与关闭,以适应不同输入电压范围,并提高了采样电流的精度,降低了生产成本。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1为传统MOSFET开关器件的电流采样电路的电路框图;
图2为另一传统MOSFET开关器件的电流采样电路的电路框图;
图3为本发明一实施方式中MOSFET开关器件的电流采样电路的电路框图;
图4为本发明一实施方式中MOSFET开关器件的电流采样电路的具体电路连接图;
图5为图4所示电流采样电路的一逻辑控制波形图;
图6为本发明另一实施方式中的MOSFET开关器件的电流采样电路的具体电路连接图;
图7为本发明另一实施方式中的MOSFET开关器件的电流采样电路的具体电路连接图。
实施例1、2、3中的主要元件符号说明
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
实施例1
图3为本发明一实施方式中电流采样电路的模块图。在本实施方式中,电流采样电路直接电连接于MOSFET开关器件Q1的第一端和第二端,通过MOSFET开关器件Q1的第一端和第二端之间的电压差,判断MOSFET开关器件Q1的电流值。具体的,该电流采样电路包括开关控制模块100、电压取样模块200、电压/电流转换模块300、电压输出模块400,其中:
开关控制模块100,电连接于MOSFET开关器件Q1的第一端和第二端,根据第一时序信号EN开启或关闭,用于控制电流采样电路的取样时间点,以满足电流采样电路对不同输入电压范围的适应;
电压取样模块200,电连接于开关控制模块100,包括多个MOS管,用于获取MOS管的漏极和源极之间的取样电压,即将其内的MOS管的源极和漏极之间的电压差作为取样电压;
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