[发明专利]一种基于干型检测单元的接地网支路电阻检测方法有效
申请号: | 201510126928.9 | 申请日: | 2015-03-23 |
公开(公告)号: | CN104678184B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 杨帆;王晓宇;刘凯;胡佳佳 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01R27/20 | 分类号: | G01R27/20 |
代理公司: | 重庆市恒信知识产权代理有限公司50102 | 代理人: | 刘小红 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 检测 单元 接地 支路 电阻 方法 | ||
技术领域
本发明涉及电力系统接地与保护技术领域,特别涉及了一种基于干型检测单元的接地网支路电阻检测方法。
背景技术
接地网作为变电站的接地系统,在变电站起到防雷泄流等作用,是变电站安全运行的重要保障。然而由于接地网长期埋设在土壤中,由扁钢制成接地网会发生不同程度的腐蚀,从而影响接地网接地性能,威胁变电站安全运行。因此变电站需定期检查接地网腐蚀情况,对接地网进行腐蚀诊断。
目前国内外接地网的腐蚀诊断研究主要分为基于电路理论和基于磁场理论两类方法;基于电路理论方法是将接地网等效为纯电阻网络,通过向接地网中注入电流并测量接地网中节点电压来计算接地网的支路等效电阻,从而通过支路等效电阻反映支路的腐蚀情况;而基于磁场理论方法则是向接地网注入电流,测量接地网上方磁场分布,通过分析磁场的分布规律,判断接地网的支路腐蚀情况;对于基于电路的诊断方法来说,由于在实际变电站中只能测取接地网部分节点电压,因此难以准确求解出接地网支路阻值;而基于磁场的诊断方法则需要测量出每条支路上方磁场,工作量巨大,诊断过程复杂。因此需要找寻其他新的方法来对接地网进行检测。
接地网支路电阻是反映接地网支路腐蚀程度的最根本的参数,现有的方法无法直接的计算接地网支路电阻,而是通过其他间接的方法来反映支路电阻的相对大小值,进而反映接地网支路的腐蚀程度。
发明内容
针对以上现有技术中的不足,本发明的目的在于提供一种检测过程简单、计算量小的基于干型检测单元的接地网支路电阻检测方法。本发明的技术方案如下:
一种基于干型检测单元的接地网支路电阻检测方法,包括以下步骤:
101、在接地网中选定待测接地网支路,待测接地网支路与接地网支路、、、、相连接,构成干型检测单元,从接地网支路、、、和上分别引出上引接地体、、、和,再从任两条接地网支路上引出上引接地体和;从接地网的上引接地体中选出对上引接地体,且上引接地体和不包含上引接地体,其中,,。
102、根据步骤101中对上引接地体,依次从中选取一对上引接地体,从上引接地体注入电流,同时从上引接地体抽出电流,测量此时上引接地体的电压和接地网支路中流过电流。
103、根据步骤102中,,时的上引接地体的电压和接地网支路中流过电流,构建方程
其中支路的导纳为,支路的导纳为,支路的导纳为,支路的导纳为,支路的导纳为,接地网支路的电阻为,
,,,,,,,
,
求解得到参数、、、、、。
104、根据步骤102中,,时的上引接地体的电压和接地网支路中流过电流,构建方程
其中支路的导纳为,
,,,,
,,
求解得到参数、、、。
105、根据步骤102中,,时的上引接地体的电压和接地网支路中流过电流,构建方程
其中支路的导纳为, ,,,
,,
求解得到参数、、。
106、根据步骤103、步骤104、步骤105得到参数、、、、、、,构建方程
其中,,,
求解得到参数R、、,其中参数R即为待测接地网支路的电阻值。
进一步的,步骤101中接地网支路、、的位置可以互换,接地网支路、的位置可以互换。
进一步的,步骤102中上引接地体注入的电流的频率为0~2000Hz、幅值为1A~30A。
进一步的,步骤102中接地网支路中流过电流的正方向是从端口流向端口。
本发明的优点及有益效果如下:
本发明根据待测接地网支路与其周围支路、、、、连接情况,构建干型检测单元;选取不少于六对上引接地体,依次从一点注入电流并从另一点抽出电流,测量此时干型检测单元中上引接地体的电压和接地网支路中流过电流;根据测量的电压和电流数据,构建四个方程、、、,分步求解每个方程,最后得到待测接地网支路的电阻值R。整个检测过程简单,计算量少。本发明求解的接地网支路电阻R直接反映了接地网支路腐蚀程度,为接地网故障诊断和支路状态评估提供了良好的依据。
附图说明
图1为接地网实例模型;
图2为本发明优选实施例测量点标注示意图;
图3为检测接地网支路电阻的流程图;
图4为本发明的所选仿真实例模型。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学,未经重庆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510126928.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电容式触摸屏传感器的测量系统
- 下一篇:一种测量复合材料部件电阻值的方法