[发明专利]一种电阻温度特性测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及材料分析及电子测试设备领域的一种电阻温度特性测试装置。

背景技术

现有技术中对金属电阻温度特性测试装置通常采用的是四探针或四线测试装置，如图1所示，即将被测试样一1置于真空腔一2内，真空腔一2外为加热体3，加热体3及真空腔一2置于一个保温结构中，试样一1与信号恒流源一4的两接线端相串联，电压表5的两探针分别与试样一1相连，感温线6一端与试样一1相接触，另一端与加热控制器7相连，加热控制器7通过感温线6温度信号的反馈，控制加热体3的加热，这种装置利用外部加热的方式将各部件组合成一个隔热的保温结构8，再在不同温度下通过加热温控器7的温度测量值、电压表5测得的电压值、信号恒流源一4的电流值，运用欧姆定律得出材料的电阻-温度特性。

不足之处在于：这种方式对测试装置结构要求很高，很难完全满足实验要求；由于带有加热体3，因此整个测试装置的空间较大，使得真空腔一2内的真空度也难以保证，热损失较大且影响热传导效率；需要人工计算电阻值，效率低，误差较大。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种电阻温度特性测试装置，使其结构空间小、测试简便、高效、满足实验要求，可速得出实验结果。

为解决上述技术问题，本发明主要解决的技术问题是提供一种电阻温度特性测试装置，包括有保温装置和信号恒流源；所述保温装置内设有真空腔；所述真空腔内设有试样；所述试样与信号恒流源相串联；所述电阻温度特性测试装置还包含有功率恒流源、控制器和测试传感器；所述功率恒流源上串联有接触器；所述接触器与控制器相连且接触器出线端与信号恒流源相并联；所述测试传感器与控制器及试样相连；所述控制器控制接触器接通功率恒流源，使其大电流通过试样发热，所述测试传感器测试试样温度并将温度反馈至控制器，所述控制器控制功率恒流源的电流输出；所述信号恒流源含有电压探针，所述电压探针将采集到的电压信号传至控制器并经其转换为相应温度的电阻值。

优选的，所述控制器可控制接触器的接通与断开、功率恒流源的输出电流大小及根据电压信号转换为相应温度的电阻值。

优选的，所述接触器在信号恒流源进行电压信号采集时断开功率恒流源的接通。

本发明的有益效果是：测试装置结构空间小、测试简便、高效、容易满足实验要求，可速得出实验结果。

附图说明

图1是现有技术中采用的测试装置示意图；

图2是本发明所述的一种电阻温度特性测试装置示意图；

其中，1、试样一；2、真空腔一；3、加热体；4、信号恒流源一；5、电压表；6、感温线；7、加热控制器；8、保温结构；9、保温装置；10、信号恒流源；11、真空腔；12、试样；13、功率恒流源；14、控制器；15、测试传感器；16、电压探针；K、接触器。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

如图2所示的本发明所述的一种电阻温度特性测试装置，包括有保温装置9和信号恒流源10；所述保温装置9内设有真空腔11；所述真空腔11内设有试样12；所述试样12与信号恒流源10相串联；所述电阻温度特性测试装置还包含有功率恒流源13、控制器14和测试传感器15；所述功率恒流源13上串联有接触器K；所述接触器K与控制器14相连且接触器K出线端与信号恒流源10相并联；所述测试传感器15与控制器14及试样12相连；所述控制器14控制接触器K接通功率恒流源13，使其大电流通过试样12发热，所述测试传感器15测试试样12温度并将温度反馈至控制器14，所述控制器14控制功率恒流源13的电流输出；所述信号恒流源10含有电压探针16，所述电压探针16将采集到的电压信号传至控制器14并经其转换为相应温度的电阻值；所述控制器14可控制接触器K的接通与断开、功率恒流源13的输出电流大小及根据电压信号将其转换为相应温度的电阻值；所述接触器K在信号恒流源10进行电压信号采集时断开功率恒流源13的接通。

本发明所述的电阻温度特性测试装置的工作过程如下：

在图2中，工作时所述控制器14控制接触器K接通功率恒流源13，使其大电流通过试样12发热，所述测试传感器15测试试样12温度并将其反馈至控制器14，所述控制器14控制功率恒流源13电流输出；所述信号恒流源10可正反向输出电流，其电压探针16将采集到的电压信号传至控制器14并将其转换为相应温度的电阻值；所述接触器K在信号恒流源10进行电压信号采集时断开功率恒流源13的接通。