[发明专利]一种利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法有效
| 申请号: | 201510095296.4 | 申请日: | 2015-03-03 |
| 公开(公告)号: | CN104868010B | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
| 发明(设计)人: | 蒋秀林;张红玲;延刚;单伟 | 申请(专利权)人: | 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司;晶澳太阳能有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 广州知友专利商标代理有限公司44104 | 代理人: | 李海波 |
| 地址: | 225131 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 利用 强光 辐照 降低 晶体 太阳能电池 及其 组件 衰减 方法 | ||
1.一种利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法,其特征是:对P型晶体硅太阳能电池成品或半成品,或在开路状态下的P型晶体硅太阳能电池组件成品或半成品,用辐射强度为5~10kW/m2的强光照射1~3分钟;
用辐射强度为5~10kW/m2的强光照射1~3分钟的过程中,对P型晶体硅太阳能电池成品或半成品,或在开路状态下的P型晶体硅太阳能电池组件成品或半成品进行散热处理,使其温度保持在140~200℃;
对P型晶体硅太阳能电池成品或半成品,或在开路状态下的P型晶体硅太阳能电池组件成品或半成品进行散热处理时通入氮气,使其在强光照射下时处于氮气保护气氛中,以防止其金属电极氧化。
2.根据权利要求1所述的利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法,其特征是:所述强光的光子能量分布能够在硅基体中激发出光生载流子,其中至少80%的辐射强度来自分布在285~1200 nm光谱范围内的光子。
3.根据权利要求2所述的利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法,其特征是:所述的强光光源为卤素灯光源。
4.根据权利要求3所述的利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法,其特征是:对P型晶体硅太阳能电池成品或半成品,在烘干阶段,烘干设备的加热方式为采用卤素灯光源进行加热。
5.根据权利要求3所述的利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法,其特征是:在开路状态下的P型晶体硅太阳能电池组件半成品,在层压阶段,层压设备的至少一个加热板的加热方式为采用卤素灯光源进行加热。
6.根据权利要求2所述的利用强光辐照降低P型晶体硅太阳能电池及其组件光致衰减的方法,其特征是:所述的P型晶体硅太阳能电池由P型单晶硅、P型多晶硅或P型类单晶硅制成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶澳(扬州)太阳能科技有限公司;晶澳太阳能有限公司,未经晶澳(扬州)太阳能科技有限公司;晶澳太阳能有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510095296.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种焊带整形机构
- 下一篇:一种耐候太阳能电池背板基膜及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





