[发明专利]磁盘装置及磁头的评价方法

说明书

本发明的实施方式提供可以容易且高精度评价高频振荡元件的振荡特性的具备头的磁盘装置和磁头的评价方法。实施方式所涉及的磁盘装置，具备：磁头，具有具备高频振荡元件的写入头及读取头；由磁头对数据进行记录再现的记录介质；使磁头在记录介质上移动的驱动部；发热元件，用于通过通电而发热来使得磁头的上浮量变化；测定部，在与通常的记录再现工作时相比对发热元件通电的电流值较小或关断的状态下，取得第1再现信号和第2再现信号；运算部，算出第1再现信号与第2再现信号的比较结果即比较数据；以及判定部，由比较数据判定高频振荡元件的振荡特性。

技术领域

本发明的实施方式涉及磁盘装置及磁头的评价方法。

背景技术

近年，在以硬盘驱动器为代表的磁盘装置的领域，作为可实现更高记录密度和更高记录容量的记录方式之一，研究了高频辅助记录方式。

高频辅助记录方式是使用具有高频振荡元件的磁头、对磁盘上施加高频磁场的记录方式。作为高频振荡元件，例如有自旋扭矩振荡器(STO)。磁盘装置通过对STO通电，使STO振荡，产生高频磁场。

在高频辅助记录方式的磁盘装置中，研究了评价高频振荡元件的振荡特性的方法。例如，有通过确认高频振荡元件的电阻变化而评价高频振荡元件的振荡特性的方法。伴随高频振荡元件的振荡的电阻变化的程度根据元件本身的磁阻效应的大小而变动。从而，根据电阻变化，难以正确判定高频振荡元件的振荡特性。另外，电阻变化率的大小也小，因此难以获得高测定精度。

发明内容

本发明的实施方式解决的问题是提供可容易且高精度评价高频振荡元件的振荡特性的磁盘装置及磁头的评价方法。

本实施方式所涉及的磁盘装置，具备：磁头，具有具备高频振荡元件的写入头及读取头；由磁头对数据进行记录再现的记录介质；使磁头在记录介质上移动的驱动部；发热元件，设置在磁头，用于通过通电而发热，改变磁头的上浮量；测定部，在与通常的记录再现工作时相比对发热元件通电的电流值较小或关断的状态下，取得在不对高频振荡元件通电或以与通常的记录时相比较小的值的通电而记录的第1数据图形的第1再现信号和对高频振荡元件通电而记录的第2数据图形的第2再现信号；运算部，算出比较第1再现信号和第2再现信号所得的结果即比较数据；判定部，由比较数据判定高频振荡元件的振荡特性。

附图说明

图1是第1实施方式所涉及的磁盘装置的方框图。

图2是表示头的结构的截面图。

图3(a)是表示第1加热器及第2加热器为导通状态的头的上浮量的示意图，图3(b)是表示第1加热器及第2加热器为关断状态的头的上浮量的示意图。

图4(a)是自旋扭矩振荡器(STO)振荡时的写入头的前端部的放大示意图，图4(b)是STO不振荡时的写入头的前端部的放大示意图。

图5是从头发出的磁场强度的计算结果的一例的示图。

图6(a)是表示头的上浮量比通常的记录工作时高的情况下，在STO不振荡的状态下记录的低频信号的再现波形的示图，图6(b)是表示头的上浮量比通常的记录工作时高的情况下，在STO振荡状态下记录的低频信号的再现波形的示图。

图7是定期地监视再现信号的平均振幅的差量的结果的示图。

图8是判定STO的振荡的有无的流程图。

图9是第2实施方式所涉及的磁盘装置的方框图。

图10是第2实施方式所涉及的磁盘装置中，STO的振荡的有无判定的流程图。

图11是在第3实施方式所涉及的出厂试验工序内执行的STO的振荡的有无判定的流程图。

图12是在第4实施方式所涉及的出厂试验工序内执行的STO的振荡的有无判定的流程图。