[发明专利]一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置及方法有效
申请号: | 201510087277.7 | 申请日: | 2015-02-25 |
公开(公告)号: | CN105319248B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 高志明;刘晓玉;夏大海;修妍;胡文彬;刘永长 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N27/26 | 分类号: | G01N27/26 |
代理公司: | 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙)12214 | 代理人: | 王秀奎 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 金属表面 缺陷 电化学 无损 装置 方法 | ||
1.一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:包括待测金属试样,离子导通膜,参比电极,多通道电极探头以及电化学测量装置,所述多通道电极探头设置在所述待测金属试样的上表面,所述多通道电极探头由酚醛树脂和金属电极棒组成,所述金属电极棒呈M行N列等距的分布在所述酚醛树脂中,所述M大于等于5小于等于20,所述N大于等于5小于等于20,且在所述多通道电极探头的底端和所述待测金属试样的上表面之间设置有所述离子导通膜,所述离子导通膜分别与所述多通道电极探头的底端和所述待测金属试样的上表面紧密接触,所述参比电极设置在所述待测金属试样的上方且与所述离子导通膜紧密接触,所述多通道电极探头的顶端、所述参比电极和所述待测金属试样的底面分别通过导线与所述电化学测量装置的工作端、标定参比电极端和接地端相连,所述电化学测量装置内设置有运算放大器或者零电阻电路。
2.根据权利要求1所述的一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:选用饱和甘汞电极作为参比电极。
3.根据权利要求1所述的一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:所述离子导通膜能够导通离子,但无法导通电子。
4.根据权利要求1所述的一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:离子导通膜为海绵、木材、滤纸或者竹子。
5.根据权利要求1所述的一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:所述多通道电极探头的金属电极棒材质为Q235型号的碳钢棒,所述Q235型号的碳钢棒的直径为0.3-0.7mm。
6.根据权利要求5所述的一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:所述Q235型号的碳钢棒的直径为0.5mm。
7.根据权利要求1所述的一种检测金属表面缺陷的电化学无损检测装置,其特征在于:所述多通道电极探头的顶端与所述电化学测量装置的信号采集端的具体连接方式为:所述金属电极棒分别通过导线与所述电化学测量装置的工作端的各个信号采集接点连接。
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