[发明专利]一种深水基槽回淤监测方法及系统在审

专利信息
申请号: 201510082306.0 申请日: 2015-02-16
公开(公告)号: CN104652397A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: 刘兆权;张秀振;孙阳阳;季浩华;成益品 申请(专利权)人: 中交一航局第二工程有限公司
主分类号: E02D1/00 分类号: E02D1/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 266071 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 深水 基槽回淤 监测 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及水深测量领域,具体涉及一种深水基槽回淤监测方法及系统。

背景技术

基槽回淤对沉管隧道安装具有很大影响,目前施工单位关于基槽回淤监测方法主要有:潜水员探摸法,密度仪直接测量法,高差法。潜水员探摸法一般采用潜水员潜入海底进行回淤厚度人工测量;密度计法为采用密度计进行密度深度剖面测量;高差法一般采用双频测深仪对开挖后及抛填前进行深度测量。

潜水员取样法代表性差,无法整体判断回淤状况。密度计法,操作不便且成本较高。高差法,双频测深仪为点状式测量,无法形成高密度水深图,两次测量间对比误差较大,不能全面准确反映回淤状况。

发明内容

针对现有技术中的缺陷,本发明提供一种深水基槽回淤监测方法及系统,该方法能够准确得知深水基槽的回淤状况,为后续抛填提供了依据。

第一方面,本发明提供一种深水基槽回淤监测方法,包括:

获取基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程;

根据所述基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程的差值,计算深水基槽回淤量及回淤浮泥的厚度。

可选的,通过多波束测深仪获取所述基槽开挖后和所述基槽抛填前的浮泥表面的高程。

可选的,通过双频测深仪获取所述基槽开挖后和所述基槽抛填前的浮泥底面的高程。

可选的,根据所述多波束测深仪获取的所述基槽抛填前的高程与所述基槽开挖后的高程的差值获取所述基槽开挖后至所述基槽抛填前的回淤量。

可选的,所述根据所述基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程的差值,计算深水基槽回淤浮泥的厚度,包括:

根据所述多波束测深仪获取的所述基槽抛填前的高程与所述双频测深仪获取所述基槽抛填前的高程的差值,得到所述基槽开挖后至所述基槽抛填前基槽回淤量及回淤浮泥的厚度。

第二方面,本发明还提供了一种深水基槽回淤监测系统,包括:

第一获取模块,用于获取基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程;

计算模块,用于根据所述基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程的差值,计算深水基槽回淤量及回淤浮泥的厚度。

可选的,所述第一获取模块,具体用于:

通过多波束测深仪获取所述基槽开挖后和所述基槽抛填前的浮泥表面的高程。

可选的,所述第一获取模块,具体用于:

通过双频测深仪获取所述基槽开挖后和所述基槽抛填前的浮泥底面的高程。

可选的,所述系统还包括:

第二获取模块,用于根据所述多波束测深仪获取的所述基槽抛填前的高程与所述基槽开挖后的高程的差值获取所述基槽开挖后至所述基槽抛填前的回淤量。

可选的,所述计算模块,具体用于:

根据所述多波束测深仪获取的所述基槽抛填前的高程与所述双频测深仪获取所述基槽抛填前的高程的差值,得到所述基槽开挖后至所述基槽抛填前基槽回淤量及回淤浮泥的厚度。

由上述技术方案可知,本发明提出了一种深水基槽回淤监测方法及系统,该方法通过对基槽开挖后及抛填前水深测量,准确的反映出了基槽区域的回淤状况;相对于潜水员测量法,密度仪法,及双频测深仪法,成本小,且全覆盖,更加能准确反映出回淤状况。

附图说明

图1为本发明一实施例提供的一种深水基槽回淤监测方法的流程示意图;

图2为本发明一实施例提供的一种深水基槽回淤监测示意图;

图3为本发明另一实施例提供的一种深水基槽回淤监测系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图,对发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。

图1示出了本实施例提供的一种深水基槽回淤监测方法的流程示意图,如图1所示,该方法包括:

101、获取基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程;

102、根据所述基槽开挖后和基槽抛填前的浮泥表面和浮泥底面的测量高程的差值,计算深水基槽回淤量及回淤浮泥的厚度。

本发明实施例主要是对基槽开挖后和基槽抛填前进行测量,在具体工程项目中,基槽开挖后和基槽抛填前可能会有一段时间的间隔,因此在基槽开挖后和基槽抛填前基槽的回淤量有可能差别很大。

本发明实施例中的双频测深仪为低频双频测深仪,主要是用于低频测量浮泥底面高程。本发明中的所有双频测深仪均为低频双频测深仪,不仅以一一说明。

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