[发明专利]基于像素选择过程的高光谱图像异常目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201510079650.4 申请日: 2015-02-13
公开(公告)号: CN105989597B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 袁媛;王琦;马单丹 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 倪金荣
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 像素 选择 过程 光谱 图像 异常 目标 检测 方法
【说明书】:

发明提供一种基于像素选择过程的高光谱图像异常目标检测方法,包括以下步骤:1】对高光谱图像进行归一化预处理,并设定检测窗口尺寸;2】采用滑动窗口技术,获得待检测高光谱图像块X,X∈RN×D;其中,R是实数空间,N是图像块中的像素点数目,D是高光谱数据的光谱波段数;3】计算每个像素点Xi的重构误差εi;4】构建顶点‑边缘权重图;5】构建像素选择过程模型;6】重复步骤2】‑步骤5】,直至完成整幅高光谱图像异常目标的检测,获得最终的异常概率图。该高光谱图像异常目标的检测方法,解决了现有的检测技术需要对背景分布进行假设,适应性差,背景与目标的差异性不足,检测能力低的技术问题。

技术领域

本发明属于图像处理技术领域,具体涉及一种针对高光谱图像进行异常目标检测的方法。

背景技术

高光谱图像包含丰富的光谱信息,能够为地物目标微小差异的识别提供辨别性线索。而高光谱图像的异常目标检测正是基于此特性的典型应用,其主要目的是识别图像场景中显著偏离背景光谱特性的目标。这种检测实质是一种二分类问题,即将待观测的像素分类为背景或目标。与有监督的目标检测问题不同,高光谱的异常目标检测没有任何关于目标或背景的先验光谱信息,其仅仅依靠对所设定的参考背景进行建模,寻找不满足背景模型分布的点,进而定义为异常。由于这样的技术特性相比于有监督的目标检测更符合实际情况,因而已经被应用在很多领域,如精准农业,公共安全,智能防御等。

目前,根据对背景分布不同的假设,高光谱图像的异常检测算法可以分为两类。

一是基于均匀光谱分布假设的异常检测。这种方法假设整个背景服从均匀的光谱分布,具有代表性的算法就是由Reed和Yu等在文献“I.Reed and X.Yu.AdaptiveMultiple-band CFAR Detection of An Optical Pattern with Unknown SpectralDistribution.IEEE Transactions on Acoustics,Speech and Signal Processing,38(10):1760–1770,1990”提出的RX算法。该方法假设背景服从相同的多元正态分布,利用马氏距离衡量待检测像素与背景光谱分布的偏离程度。该方法存在两点不足:第一点是高斯分布不能准确地描述真实的高光谱数据,其主要原因来源于由地表材料的多样性和信号获取过程的干扰性所造成的高光谱图像复杂的分布特性;第二点是小样本问题,利用较小数量的样本进行高维背景协方差矩阵的计算,会导致病态矩阵处理问题。研究者也相继提出很多方法克服RX算法存在的问题。一类是RX算法的变种,但是由于其本质的假设没有改变,所以固有的问题还是存在;另一类是基于核理论的算法,将数据映射到高维特征空间增强目标与背景的辨别性,但是较高的计算负担依然是该类核算法难以突破的瓶颈。

二是基于多类光谱分布假设的异常检测。这种方法假设复杂的背景包含多类不同的分布。典型的技术路线是先分别评估不同类别的信息,然后综合分析,其代表性的算法Carlotto在文献“M.J.Carlotto.A Ccluster-based Approach for Detecting Man-madeObjects and Changes in Imagery.IEEE Transactions on Geoscience and RemoteSensing,43(2):374–387,2005”提出的基于聚类的检测方法。该算法首先利用聚类算法将高光谱图分割成几类,然后在每一类利用原始的RX算法实现异常目标的检测。这类算法的检测性能依赖于聚类数目的设定:当聚类数目低于真实数据聚类数目,会导致类间的差异性降低,检测性能下降;当聚类数目高于真实数据聚类数目,会导致异常目标被误分为一类,造成不可检测。

发明内容

本发明目的是提供一种高光谱图像异常目标的检测方法,解决了现有的检测技术需要对背景分布进行假设,适应性差,背景与目标的差异性不足,检测能力低的技术问题。

本发明的技术解决方案是:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510079650.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top