[发明专利]显示设备有效
| 申请号: | 201510079151.5 | 申请日: | 2015-02-13 |
| 公开(公告)号: | CN104867430B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
| 发明(设计)人: | 张桓寿;郭源奎;郑镇泰 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张晓;韩芳 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 设备 | ||
提供了一种显示设备,所述显示设备包括:显示单元,包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素;初始化单元,用于将初始化信号施加到多条数据线;以及导线测试单元,用于通过分别连接到多条数据线中的每条的一端的多条扇出线来将导线测试信号施加到多条数据线。
本申请要求于2014年2月25日在韩国知识产权局提交的第10-2014-0022184号韩国专利申请的优先权和权益,所述韩国专利申请的公开内容通过引用全部包含于此。
技术领域
本发明的一个或更多个实施例涉及一种显示设备以及一种测试该显示设备的方法。
背景技术
面板在制造显示设备的一般工艺期间经受各种测试。这些测试中的一种是开路检测测试,即,使用通过将信号施加到数据线而显示的屏幕来检测开路的数据线或扇出线。
然而,数据线或扇出线的电阻缺陷可能无法通过这样的开路检测测试来检测。
发明内容
本发明的一个或更多个实施例包括一种显示设备以及一种测试该显示设备的方法,从而可在执行组件工艺之前并发地(例如,同时地)检测导线的开路和电阻缺陷。
其它方面将在下面的描述中部分地阐述且部分地通过描述将是明显的,或可通过当前的实施例的实践来得知。
根据本发明的一个或更多个实施例,一种显示设备包括:显示单元,包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素;初始化单元,构造成向所述多条数据线施加初始化信号;以及导线测试单元,构造成通过分别连接在所述多条数据线中的每条的第一端处的多条扇出线来向所述多条数据线施加导线测试信号。
初始化信号可配置为在导线测试信号之前施加。
初始化单元可包括分别位于初始化信号线与所述多条数据线中的每条的第二端之间的多个第一开关。
所述多个第一开关可包括:第一初始化开关,在初始化信号线的第一初始化信号线和与第一像素的列对应的数据线之间;第二初始化开关,在初始化信号线的第二初始化信号线和与第二像素的列对应的数据线之间;以及第三初始化开关,在初始化信号线的第三初始化信号线和与第三像素的列对应的数据线之间。
第一像素和第二像素可交替地布置在相同的列中,第一初始化开关可在第一初始化信号线与第一像素和第二像素的列的数据线之间,第二初始化开关可在第二初始化信号线与第一像素和第二像素的列的数据线之间。
初始化单元可构造成在与施加初始化信号的时间不同的时间通过所述多个第一开关来向所述多条数据线施加由初始化信号线提供的点亮测试信号。
导线测试单元可包括分别位于所述多条扇出线中的每条与测试信号线之间的多个第二开关,其中,测试信号线构造成提供导线测试信号。
所述多个第二开关可包括:第一测试开关,在第一测试信号线与所述多条扇出线的连接到与第一像素的列对应的数据线的第一扇出线之间;第二测试开关,在第二测试信号线与所述多条扇出线的连接到与第二像素的列对应的数据线的第二扇出线之间;第三测试开关,在第三测试信号线与所述多条扇出线的连接到与第三像素的列对应的数据线的第三扇出线之间。
所述设备还可包括连接到所述多条扇出线的多个数据焊盘,其中,所述多个第二开关分别位于所述多个数据焊盘与测试信号线之间。
所述多个第二开关可包括:第一测试开关,在第一测试信号线与连接到所述多条扇出线的第一扇出线的数据焊盘之间,其中,第一扇出线连接到与第一像素的列对应的数据线;第二测试开关,在第二测试信号线与连接到所述多条扇出线的第二扇出线的数据焊盘之间,其中,第二扇出线连接到与第二像素的列对应的数据线;第三测试开关,在第三测试信号线与连接到所述多条扇出线的第三扇出线的数据焊盘之间,其中,第三扇出线连接到与第三像素的列对应的数据线。
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