[发明专利]谐振线圈固有频率和品质因数的非接触式测量方法

权利要求书

1.谐振线圈固有频率和品质因数的非接触式测量方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

步骤一、将阻抗测量装置测量标准线圈(1)相连接；

步骤二、利用阻抗测量装置测量标准线圈(1)阻抗的实部Real(Z_S(f))和虚部Imag(Z_S(f))随频率变化的曲线，所述频率的范围为0～20M；

步骤三、将标准线圈(1)与待测线圈通过微弱磁场强度相互耦合；

步骤四、利用阻抗测量装置测量标准线圈(1)阻抗的实部Real(Z₀(f))和虚部Imag(Z₀(f))随频率变化的曲线，f表示频率，所述频率的范围为0～20M；

步骤五、计算Real(Z_C(f))与Imag(Z_C(f))；

Real(Z_C(f))＝Real(Z₀(f))-Real(Z_S(f))，Imag(Z_C(f))＝Imag(Z₀(f))-Imag(Z_S(f))；

步骤六、令Imag(Z_C(f))＝0，计算得到待测线圈的固有频率f₀；

步骤七、构建新的阻抗复数Z_C：Z_C＝Real(Z_C(f))+i×Imag(Z_C(f))，并计算Z_C的模以及Z_C的模的最大值，其中i代表虚数；

步骤八、计算Z_C的模下降到所述最大值的(1/2)^(1/2)倍时所对应的两个频率点f₁和f₂，并计算Z_C的模的3db带宽Δf＝f₁-f₂，最后计算待测线圈的品质因数Q：

Q=f0Δf.]]>

2.根据权利要求1所述的谐振线圈固有频率和品质因数的非接触式测量方法，其特征在于：所述阻抗测量装置为阻抗分析仪或网络分析仪。

3.根据权利要求1所述的谐振线圈固有频率和品质因数的非接触式测量方法，其特征在于：所述阻抗测量装置与标准线圈(1)的连接采用同轴电缆或双绞线。

4.根据权利要求1所述的谐振线圈固有频率和品质因数的非接触式测量方法，其特征在于：步骤三中，标准线圈(1)与待测线圈之间的耦合系数为0.01～0.5。