[发明专利]微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法

权利要求书

1.一种微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法，其特征在于，该方法包括：

根据阵元的位置坐标，计算所有阵元中任意两个不同阵元的相对位置矢量的模长与相位，获得相对位置矢量的模长集合与相位集合；

根据模长集合与相位集合的取值区间进行均匀分割，获得若干对应的子区间；

确定模长集合中模长元素与相位集合中相位元素落入到每个子区间的个数，进而计算模长与相位分布的归一化概率；

根据计算到的模长与相位分布的归一化概率来计算模长与相位的分布熵；

对计算到的模长与相位的分布熵进行加权求和运算，获得用于定量表征阵元排布的随机性的阵元分布熵。

2.根据权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述获得相对位置矢量的模长集合与相位集合包括：

设阵元天线位置坐标集合为P＝{(x_i,y_i)|i＝1,...,N}，N为阵元天线个数；

计算所有阵元中任意两个不同阵元的相对位置矢量集合：

$S=\{{\stackrel{\→}{s}}_{ij}=(x_i-x_j,y_i-y_j)={\mathrm{\ρ}}_{ij}{e}^{{\mathrm{j\φ}}_{ij}}|i=1,...,N,j=1,...,N,i\≠j\};$

其中，(x_i,y_i)与(x_j,y_j)分别为两个不同阵元的位置坐标；φ_ij＝arcsin[(y_i-y_j)/ρ_ij]；

获得包含所有阵元中任意两个不同阵元的相对位置矢量的模长集合S_ρ与相位集合S_φ：

$\left\{\begin{array}{c}{S}_{\mathrm{\ρ}}=\left\{{\mathrm{\ρ}}_{ij}\right|i=1,...,N,j=1,...,N,i\≠j\}\\ S_{\mathrm{\φ}}=\left\{{\mathrm{\φ}}_{ij}\right|i=1,...,N,j=1,...,N,i\≠j\}\end{array}\right..$