[发明专利]用于测试压缩面板的系统和方法

权利要求书

1.一种用于对准测试面板(150)与测试机(102)的对准装置(300)，该对准装置(300)包括：

激光测量系统(302)，其包含至少一个激光测量设备(304)，该激光测量设备(304)被耦合到测试夹具(200)和/或测试机(102)并且被配置为生成表示测试面板(150)相对于所述测试机(102)的上压板(114)和/或加载轴线(120)的取向的激光测量数据；

调整机构(400)，其被配置为根据所述激光测量数据用以下方式调整所述测试面板(150)相对于所述压板和/或所述加载轴线(120)的位置和/或取向，即以使所述测试面板(150)被移动到与所述压板和/或所述加载轴线(120)基本对准的方式，以便压缩的测试载荷(122)横跨所述测试面板(150)的面板边缘基本均匀地分布；以及

载荷传递界面(202)，其被配置为定位在测试面板的面板边缘(154)上；

其中所述激光测量系统包含被置于所述载荷传递界面(202)的相应的第一末端部分(208)和第二末端部分(210)上的第一和第二激光测量设备(304)，所述第一和第二激光测量设备(304)被配置为确定指示所述压板和所述相应的第一末端部分(208)和第二末端部分(210)之间的相应的第一距离(212)和第二距离(214)的值；以及

其中所述调整机构(400)被配置为通过用使所述载荷传递界面(202)与所述面板边缘对准的方式升高或降低所述载荷传递界面(202)的第一末端部分(208)和/或所述第二末端部分(210)以使所述第一距离(212)和第二距离(214)基本相等，从而调整所述测试面板(150)的取向，以便压缩的测试载荷(122)横跨所述测试面板的第一侧边缘均匀地分布。

2.根据权利要求1所述的对准装置(300)，其中：

所述激光测量设备(304)被配置为生成表示所述测试面板(150)的面板边缘相对于所述上压板(114)的取向的激光测量数据。

3.根据权利要求1所述的对准装置(300)，其中：

所述激光测量设备(304)被配置为生成表示所述测试面板(150)的中心线(164)和/或中性轴线(166)相对于所述加载轴线(120)的位置和/或取向的激光测量数据。

4.根据权利要求1所述的对准装置(300)，其进一步包括：

处理器(320)，其被配置为从所述激光测量设备(304)接收所述激光测量数据；

马达(412)，其被可操作地耦合到所述调整机构(400)并且被通信地耦合到所述处理器(320)；以及

所述处理器(320)被配置为根据所述激光测量数据生成命令以便用使所述测试面板(150)被移动到与所述压板和/或所述加载轴线(120)基本对准的方式操作所述调整机构(400)。

5.根据权利要求1所述的对准装置(300)，其进一步包括：

处理器(320)；

所述激光测量设备(304)是被通信地耦合到所述处理器(320)并且被配置为扫描所述测试面板(150)和/或所述测试夹具(200)的表面几何形状并且生成表示所述表面几何形状的扫描数据的激光扫描仪(314)；以及

所述处理器(320)被配置为从所述激光扫描仪(314)接收所述扫描数据并且根据所述扫描数据确定所述测试面板(150)相对于所述压板和/或所述加载轴线(120)的位置和/或取向。

6.根据权利要求5所述的对准装置(300)，其进一步包括：

马达(412)，其被可操作地耦合到所述调整机构(400)并且被通信地耦合到所述处理器(320)；

所述处理器(320)被配置为根据所述扫描数据确定所述测试面板(150)的中性轴线(166)相对于所述加载轴线(120)的所述位置和/或取向；以及

所述处理器(320)被配置为命令所述马达(412)以便用使所述测试面板(150)的所述中性轴线(166)被移动到与所述加载轴线(120)基本对准的方式操作所述调整机构(400)。